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公开(公告)号：CN106441207A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610907699.9
申请日：2016-10-18
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01B21/30
CPC classification number: G01B21/30
Abstract: 本发明提供了一种用于具有表面深谷信号的表面粗糙度测量的高斯滤波方法。用于具有表面深谷信号的表面粗糙度测量的高斯滤波方法包括：通过引入回归理论和稳健估计理论，获得用于开放轮廓的开环高斯滤波模型；确定上述用于开放轮廓的开环高斯滤波模型所使用的稳健估计权函数；利用当前获得的用于开放轮廓的开环高斯滤波模型，对具有表面深谷信号的表面粗糙度测量数据进行高斯滤波。本发明的用于具有表面深谷信号的表面粗糙度测量的高斯滤波方法，能够消除边界效应，提高滤波器稳健性，并能消除局部形状对滤波中线的影响。
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