用于提供多比特逐次逼近ADC的方法和电路

    公开(公告)号:CN103078642B

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201210417548.7

    申请日:2012-10-26

    CPC classification number: H03M1/144 H03M1/0695 H03M1/468

    Abstract: 本发明提供用于通过在多个逐次逼近循环中的每个循环中处理一个以上比特来将模拟信号转换为数字信号的例子。系统可以包括电容子DAC电路和比较器。开关可以在一个或多个第一循环期间隔离电容子DAC电路,并且在一个或多个最后循环期间结合这些子DAC电路。逐次逼近寄存器(SAR)可以生成数字输出信号或DAC数字信号。在另一个例子中,系统可以包括DAC电路。输入电容可以预充电至模拟输入信号和DAC模拟信号民中的至少一个。可编程增益放大器可以放大误差信号。多比特ADC可以将放大后的误差信号转换为多比特数字信号。SAR可以使用多比特数字信号来生成DAC数字信号或数字输出信号。

    多比特逐次逼近ADC
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103078642A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201210417548.7

    申请日:2012-10-26

    CPC classification number: H03M1/144 H03M1/0695 H03M1/468

    Abstract: 本发明提供用于通过在多个逐次逼近循环中的每个循环中处理一个以上比特来将模拟信号转换为数字信的例子。系统可以包括电容子DAC电路和比较器。开关可以在一个或多个第一循环期间隔离电容子DAC电路,并且在一个或多个最后循环期间结合这些子DAC电路。逐次逼近寄存器(SAR)可以生成数字输出信号或DAC数字信号。在另一个例子中,系统可以包括DAC电路。输入电容可以预充电至模拟输入信号和DAC模拟信号民中的至少一个。可编程增益放大器可以放大误差信号。多比特ADC可以将放大后的误差信号转换为多比特数字信号。SAR可以使用多比特数字信号来生成DAC数字信号或数字输出信号。

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