-
公开(公告)号:CN111767518A
公开(公告)日:2020-10-13
申请号:CN202010505563.1
申请日:2020-06-05
Abstract: 本发明实施例提供了一种AWCC的参数数值确定方法、装置、设备及计算机存储介质。该AWCC的参数数值确定方法,包括:获取AWCC的目标参数的β个参数数值和参数数值对应的中子探测效率;基于每个参数数值对应的中子探测效率,确定各个参数数值对应的选择概率;生成随机数,并选择与随机数对应的选择概率所对应的参数数值,得到第一目标参数数值;利用遗传算法对每个第一目标参数数值进行交叉操作和/或变异操作,得到δ个第二目标参数数值;确定每个第二目标参数数值的中子探测效率;将最大中子探测效率对应的第二目标参数数值确定为AWCC的目标参数的最终数值。该发明实施例,能够确定出AWCC的全局最优参数数值,提高其中子探测效率。
-
公开(公告)号:CN111767518B
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202010505563.1
申请日:2020-06-05
Abstract: 本发明实施例提供了一种AWCC的参数数值确定方法、装置、设备及计算机存储介质。该AWCC的参数数值确定方法,包括:获取AWCC的目标参数的β个参数数值和参数数值对应的中子探测效率;基于每个参数数值对应的中子探测效率,确定各个参数数值对应的选择概率;生成随机数,并选择与随机数对应的选择概率所对应的参数数值,得到第一目标参数数值;利用遗传算法对每个第一目标参数数值进行交叉操作和/或变异操作,得到δ个第二目标参数数值;确定每个第二目标参数数值的中子探测效率;将最大中子探测效率对应的第二目标参数数值确定为AWCC的目标参数的最终数值。该发明实施例,能够确定出AWCC的全局最优参数数值,提高其中子探测效率。
-
公开(公告)号:CN218885781U
公开(公告)日:2023-04-18
申请号:CN202223091811.6
申请日:2022-11-16
Abstract: 本申请公开了一种测试平台。测试平台应用于热中子屏蔽性能测试,测试平台包括本体、发射部件和准直部件。本体包括沿第一方向贯穿本体的通孔,发射部件设置在通孔内,本体用于屏蔽部分发射部件的辐射;准直部件包括沿第一方向排列设置的第一部件和第二部件,第一部件上设置有沿第一方向贯穿第一部件的准直腔,准直腔用于对发射部件发射的中子提供准直效果,使中子聚集在实验区域,以降低测试结果的统计误差,提高实验结果的准确性;第二部件覆盖第一部件的至少部分第一表面,第二部件具有比第一部件更强的热中子吸收能力,第二部件能吸收部分准直中子周围的杂散中子,以降低杂散中子对实验结果的干扰,这提高了测试结果的可靠性和准确性。
-
-