公开(公告)号：CN117491844A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202311459258.3

申请日：2023-11-03

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 刘爱青 ,  吴婷 ,  蔡振东 ,  韩新宇 ,  成亮 ,  姚津 ,  王菲

IPC: G01R31/28 ,  G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种检测装置，涉及DCS系统测试领域。该检测装置用于与待测模块插接，待测模块上具有多个待测通道，该检测装置具体包括有密集端子排、多个探针和连接器，多个探针的首端按照多个待测通道的间距穿设出密集端子排，多个探针的末端分别通过所对应的线缆连接在连接器对应的触点上。当需要对该待测模块的多个待测通道进行信号检测时，仅需要将密集端子排靠近待测模块，使得多个探针同时插入对应的待测通道，每一个探针检测到的信号再通过对应的线缆输出至连接器对应的触点上，实现对多个待测通道的同时测试，避免对每个测试通道依次进行接线、拆线的操作，大大提高了测试速度，降低设备调试周期，同时也提高了测试的准确性。

公开(公告)号：CN117538646A

公开(公告)日：2024-02-09

申请号：CN202311493170.3

申请日：2023-11-09

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 吴婷 ,  成亮 ,  蔡振东 ,  刘爱青 ,  王菲 ,  刘玉升

IPC: G01R31/00 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明公开了一种测试装置及测试方法，所述测试装置用于功能卡的检测，所述测试装置包括：底座模块，所述底座模块用于对接所述功能卡，所述底座模块配置有与所述功能卡上待检测引脚对应的探针；按压模块，所述按压模块包括按压部，所述按压部沿着所述功能卡与所述底座模块的插拔方向移动并与所述功能卡接触，以带动所述待检测引脚与所述探针连接。采用本方案，能够使得DCS模板供电具备可靠性，从而便于后续的功能性检测步骤；还能够提升检测的通用性。以及，使得功能卡能够自动与底座模块连接，实现快速将功能卡与底座卡进行插拔的自动化操作，提升检测的效率。