FPGA的测试系统、方法和电子设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117687898A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311478003.1

    申请日:2023-11-07

    Abstract: 本发明公开了一种FPGA的测试系统、方法和电子设备。测试系统先对FPGA芯片的配置信息进行检测,将按照获取的配置信息自动生成的预期配置文本与FPGA芯片的配置信息生成的开发配置文本比较,检测出开发配置文本的错误;再检测FPGA芯片的代码和逻辑功能,将检测无误或者修改后的开发配置文本下装至存储设备,并利用系统平台组件库自动化生成模型,根据输入的参数和自动化生成激励工具自动生成测试激励,通过对应的数据接口将测试激励分别输入到仿真模型与FPGA芯片中,从而大大缩短了测试需要的时间,提升了测试工作的效率并降低了人为错误率,克服了测试执行者在执行测试必须要精通底层语法及编译环境配置等痛点。

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