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公开(公告)号：CN105723208B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201480052630.1
申请日：2014-06-17
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01N21/95
Abstract: 通过全部进行电特性检查，对光学特性进行抽样检查，从而能够进行更加稳定的等级划分，使生产品质良好。具有作为控制部的CPU(2)，其基于光学特性检查部(7)对每规定数量的发光元件进行抽样检查而使抽样检查部(21)收集的发光元件的光学特性值、检查插补部(23)基于光学特性检查部(7)抽样检查到的多个光学特性值通过插补运算求出的未检查的发光元件的光学特性值、和DC检查部(8)对晶片整个面的多个发光元件全部检查电特性(DC特性)而使合格与否判断部(22)判断出的合格与否信息(合格品/不合格品信息)合成而得到的图像信息，控制等级划分部(24)制作对每等级的发光元件组进行等级划而得的信息。
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公开(公告)号：CN105723208A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201480052630.1
申请日：2014-06-17
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01N21/9501
Abstract: 通过全部进行电特性检查，对光学特性进行抽样检查，从而能够进行更加稳定的等级划分，使生产品质良好。具有作为控制部的CPU(2)，其基于光学特性检查部(7)对每规定数量的光学元件进行抽样检查而使抽样检查部(21)收集的发光元件的光学特性值、检查插补部(23)基于光学特性检查部(7)抽样检查到的多个光学特性值通过插补运算求出的未检查的发光元件的光学特性值、和DC检查部(8)对晶片整个面的多个光学元件全部检查电特性(DC特性)而使合格与否判断部(22)判断出的合格与否信息(合格品/不合格品信息)合成而得到的图像信息，控制等级划分部(24)制作对每等级的发光元件组进行等级划而得的信息。
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公开(公告)号：CN104254911A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201380021965.2
申请日：2013-03-18
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H01L21/66 , H01L21/677
CPC classification number: H01L21/67271 , H01L22/14 , H01L22/20 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 【课题】不进行库存的再编成，防止再编成引起的芯片移载时产生的芯片损伤。【解决手段】具有：分类数量管理最佳化运算单元(921)，其进行根据该特性数据来分配分类支出数量作为每个等级的分类数量的运算，使得不产生支出的芯片数量比最小基准数少的片；和分类单元(923)，其根据运算出的该分类支出数量来控制分类处理。
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公开(公告)号：CN104254911B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201380021965.2
申请日：2013-03-18
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H01L21/66 , H01L21/677
CPC classification number: H01L21/67271 , H01L22/14 , H01L22/20 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 不进行库存的再编成，防止再编成引起的芯片移载时产生的芯片损伤。具有：分类数量管理最佳化运算单元(921)，其进行根据该特性数据来分配分类支出数量作为每个等级的分类数量的运算，使得不产生支出的芯片数量比最小基准数少的片；和分类单元(923)，其根据运算出的该分类支出数量来控制分类处理。
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