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公开(公告)号：CN100353381C
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200510120213.9
申请日：2005-11-07
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G06T7/00
CPC classification number: H04N1/401
Abstract: 图像检查设备包括：原始图像存储器21，用于存储从图像传感器11输出的图像数据；滤波处理部分22，用于获得从输出图像数据中去除了阴影分量的去除了阴影分量的数据；初步处理存储器23，用于存储去除了阴影分量的数据；块划分/相加部分24，用于将去除了阴影分量的数据划分为具有预定尺寸n×m的块，并且将所划分的块内的去除了阴影分量的数据相加以获得块划分/相加数据；二次处理存储器25，用于存储块划分/相加数据；统计处理部分26，用于计算针对块划分/相加数据的平均值、最大值和最小值；质量确定部分27，用于利用计算出的平均值、最大值和最小值来确定针对该数据的质量；以及确定结果存储器28，用于存储与已经确定的块有关的信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101210890B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200710160840.4
申请日：2007-12-27
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 口井敏匡
IPC: G01N21/956 , G01N21/93 , H04N5/217 , G01M99/00
Abstract: 本发明公开了缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块，缺陷检测装置包括：像素值校正部，校正作为检测缺陷区域的对象的被检测图像内的像素值，使被检测图像的缺陷区域相对于被检测图像的其它区域被强调；块分割处理部，将像素值已校正的被检测图像分割成多块并求出块相加值或块平均值，块相加值是对各块中所存在像素的像素值进行相加后所得到的值，块平均值是上述块相加值除以该块中所存在的像素的个数后所得到的值；优劣判断部，通过统计处理部的统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值，从而判断是否存在上述缺陷区域。通过强调图像传感器图像的缺陷区域，可实现高精度地检测缺陷区域的缺陷检测装置和缺陷检测方法。
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公开(公告)号：CN101210890A
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200710160840.4
申请日：2007-12-27
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 口井敏匡
IPC: G01N21/956 , G01N21/93 , H04N5/217 , G01M19/00
Abstract: 本发明公开了缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块，缺陷检测装置包括：像素值校正部，校正作为检测缺陷区域的对象的被检测图像内的像素值，使被检测图像的缺陷区域相对于被检测图像的其它区域被强调；块分割处理部，将像素值已校正的被检测图像分割成多块并求出块相加值或块平均值，块相加值是对各块中所存在像素的像素值进行相加后所得到的值，块平均值是上述块相加值除以该块中所存在的像素的个数后所得到的值；优劣判断部，通过统计处理部的统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值，从而判断是否存在上述缺陷区域。通过强调图像传感器图像的缺陷区域，可实现高精度地检测缺陷区域的缺陷检测装置和缺陷检测方法。
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公开(公告)号：CN1770202A
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN200510120213.9
申请日：2005-11-07
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G06T7/00
CPC classification number: H04N1/401
Abstract: 图像检查设备包括：原始图像存储器21，用于存储从图像传感器11输出的图像数据；滤波处理部分22，用于获得从输出图像数据中去除了阴影分量的数据；初步处理存储器23，用于存储去除了阴影分量的数据；块划分/相加部分24，用于将去除了阴影分量的数据划分为具有预定尺寸n×m的块，并且将所划分的块内的去除了阴影分量的数据相加以获得块划分/相加数据；二次处理存储器25，用于存储块划分/相加数据；统计处理部分26，用于计算针对块划分/相加数据的平均值、最大值和最小值；质量确定部分27，用于利用计算出的平均值、最大值和最小值来确定针对该数据的质量；以及确定结果存储器28，用于存储与已经确定的块有关的信息。
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公开(公告)号：CN1940994B
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200610141619.X
申请日：2006-09-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G06T7/0004
Abstract: 本发明提供一种缺陷检测装置，具有：块分割部，把成为检测缺陷区域的被检测图像分割为多个块；块相加值计算部，计算由块分割部分割的各块的块相加值，其中，该块相加值是对块内存在的像素的像素数据进行相加后所得到的值；统计处理部及优劣判断部，通过统计处理来判断是否存在块相加值的误差值，从而判断是否存在缺陷区域。由此，可由紧凑的电路结构在短时间内判断出数字图像是否存在缺陷区域。
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公开(公告)号：CN1940994A
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200610141619.X
申请日：2006-09-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G06T7/0004
Abstract: 本发明提供一种缺陷检测装置，具有：块分割部，把成为检测缺陷区域的被检测图像分割为多个块；块相加值计算部，计算由块分割部分割的各块的块相加值，其中，该块相加值是对块内存在的像素的像素数据进行相加后所得到的值；统计处理部及优劣判断部，通过统计处理来判断是否存在块相加值的误差值，从而判断是否存在缺陷区域。由此，可由紧凑的电路结构在短时间内判断出数字图像是否存在缺陷区域。
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