公开(公告)号：CN104024740B

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201280064788.1

申请日：2012-09-05

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 岸良健太郎 ,  岩田昇 ,  滨本将树 ,  北泽田鹤子 ,  江藤秀树 ,  小谷晃央 ,  中峻之 ,  村上善照

IPC: F24C7/04 ,  F24C1/00 ,  F24C1/02 ,  F24C7/02

CPC classification number: H05B6/80 ,  H05B6/6447 ,  H05B6/645 ,  H05B6/6458

Abstract: 加热烹饪器(1)包括：对被加热物(C)进行加热的加热部(5)；电磁波产生部(15)，其为了判别被加热物(C)的烹饪状态而向被加热物(C)发射100GHz以上120THz以下的频率的电磁波(E)；电磁波检测部(16)，其对电磁波产生部(15)发射的电磁波(E)进行检测；和作为运算部的CPU13，其根据检测到电磁波(E)的电磁波检测部(16)输出的信号，判别被加热物(C)的烹饪状态。加热烹饪器(1)通过对射中被加热物(C)而强度发生变化的电磁波(E)进行检测，识别被加热物(C)具有的水分量的变化，判别被加热物(C)的烹饪状态。

公开(公告)号：CN105264357A

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201480031839.X

申请日：2014-03-17

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 北泽田鹤子 ,  岩田昇 ,  佐藤隆信

IPC: G01N21/41

CPC classification number: G01N21/41 ,  G01N21/554 ,  G01N21/7746 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/068 ,  G01N2201/08

Abstract: 光学传感器系统(21)包括：具有发光器件(2)和检测从发光器件(2)出射的光的检测器(3)的光学传感器头(1)；和计算部(51)。发光器件(2)具有包含第一反射面(4)、与第一反射面(4)相对的第二反射面(5)和设置在第一反射面(4)与第二反射面(5)之间的波导(6)的共振器。在第一反射面(4)上形成有至少一个以上的能够激发表面等离子体的金属微粒。计算部(51)根据检测器(3)的检测值计算第一反射面(4)的环境参数。

公开(公告)号：CN104024740A

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：CN201280064788.1

申请日：2012-09-05

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 岸良健太郎 ,  岩田昇 ,  滨本将树 ,  北泽田鹤子 ,  江藤秀树 ,  小谷晃央 ,  中峻之 ,  村上善照

IPC: F24C7/04 ,  F24C1/00 ,  F24C1/02 ,  F24C7/02

CPC classification number: H05B6/80 ,  H05B6/6447 ,  H05B6/645 ,  H05B6/6458

Abstract: 加热烹饪器(1)包括：对被加热物(C)进行加热的加热部(5)；电磁波产生部(15)，其为了判别被加热物(C)的烹饪状态而向被加热物(C)发射100GHz以上120THz以下的频率的电磁波(E)；电磁波检测部(16)，其对电磁波产生部(15)发射的电磁波(E)进行检测；和作为运算部的CPU13，其根据检测到电磁波(E)的电磁波检测部(16)输出的信号，判别被加热物(C)的烹饪状态。加热烹饪器(1)通过对射中被加热物(C)而强度发生变化的电磁波(E)进行检测，识别被加热物(C)具有的水分量的变化，判别被加热物(C)的烹饪状态。