公开(公告)号：CN1162977C

公开(公告)日：2004-08-18

申请号：CN01132523.2

申请日：2001-08-02

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 橫川成一 ,  西野毅 ,  野田和夫

IPC: H04B1/06 ,  H03D1/00

CPC classification number: H04B10/6933

Abstract: 本发明的载波检测电路由检波器成组检测所述载波频率的脉冲，通过用积分器积分检测该组的时间作成上述载波检测电平。因此，用积分器对电容进行充放电的晶体管中，不对载波频率，而对基带成分的频率作响应即可，可确保对上述晶体管的响应，并且，可稍微减小充放电电流。由此，即使把积分用的电容作为可集成的电容，也能正确检测载波。另外，通过还配置电平变更电路，在用于红外线远程控制器时，可降低对有起伏的光噪声的误动作。

公开(公告)号：CN1341998A

公开(公告)日：2002-03-27

申请号：CN01132523.2

申请日：2001-08-02

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 横川成一 ,  西野毅 ,  野田和夫

IPC: H04B1/06 ,  H03D1/00

CPC classification number: H04B10/6933

Abstract: 本发明的载波检测电路由检波器成组检测所述载波频率的脉冲,通过用积分器积分检测该组的时间作成上述载波检测电平。因此,用积分器对电容进行充放电的晶体管中,不对载波频率,而对基带成分的频率作响应即可,可确保对上述晶体管的响应,并且,可稍微减小充放电电流。由此,即使把积分用的电容作为可集成的电容,也能正确检测载波。另外,通过还配置电平变更电路,在用于红外线远程控制器时,可降低对有起伏的光噪声的误动作。

公开(公告)号：CN103138736A

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN201210406277.5

申请日：2012-10-23

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 野田和夫 ,  井上高广

IPC: H03K19/007

CPC classification number: H01H37/761 ,  G01J1/44 ,  G11C17/16 ,  G11C17/18

Abstract: 本发明的半导体集成电路，在元件阵列(14)中设置电阻阵列，将特性值分布的平均值与由元件阵列(14)获得的合成电阻值的中心值关联，用十进制数以‘15’～‘8’的降序设定调整信息生成电路(12)中与大于上述中心值的合成电阻值对应的调整信息的排列，用十进制数‘0’～‘7’以升序设定与上述中心值以下的合成电阻值对应的调整信息的排列。变换电路(13)变换来自调整信息生成电路(12)的调整信息，生成为了从元件阵列(14)的电阻阵列中获得各合成电阻值而选择截止的电阻的元件选择信息。由此，大幅度地削减在生成上述分布中的‘平均值±2σ’的范围内关联的调整信息的情况下的熔丝熔断根数。