公开(公告)号：CN117705763A

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202311185281.8

申请日：2023-09-14

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 滨尾保 ,  森泽且广 ,  泉谷悠介 ,  中串茂幸 ,  若山育央 ,  友松克之

IPC: G01N21/51

Abstract: 本发明提供一种具备有助于光散射测定装置的小型化的光学元件保持器的光散射测定装置。本发明提供一种光散射测定装置，其具备：光源；试样池，容纳试样，供来自光源的光射入；检测部，检测从试样池射出的出射光；光学元件保持器，具有旋转轴，并且保持包括分别以朝向旋转轴的方式设于旋转轴的周围的第一光学元件和第二光学元件的多个光学元件，该旋转轴与由出射光从试样池去往检测部的路径确定的平面正交；以及光学元件保持器支承部，将光学元件保持器支承为能绕旋转轴旋转，光学元件保持器至少能在第一光学元件位于路径上的第一姿势与第二光学元件位于路径上的第二姿势之间旋转。

公开(公告)号：CN105277490A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510340652.4

申请日：2015-06-18

Applicant: 大塚电子株式会社 ,  国立大学法人东京农工大学

Inventor： 泉谷悠介 ,  岩井俊昭

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01N21/51 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4412 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/45 ,  G01N2015/0222 ,  G01N2021/0389 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2201/062

Abstract: 提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。

公开(公告)号：CN109211741B

公开(公告)日：2022-06-17

申请号：CN201810708073.4

申请日：2018-07-02

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 泉谷悠介 ,  若山育央

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。

公开(公告)号：CN114509372A

公开(公告)日：2022-05-17

申请号：CN202111360763.3

申请日：2021-11-17

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 泉谷悠介 ,  若山育央 ,  长泽广也

IPC: G01N15/00 ,  G01N15/02

Abstract: 本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具，能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方，且具有单个受光器，由此小型且低成本。一种光散射测定装置，具有：光源；单个受光器；试样保持部，具有试样池、框体以及光学元件，其中，该框体具有配置试样池的保持空间、形成为用于前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成为用于后向测定的第二光路的入射部的第二开口，该光学元件具有与空腔的侧面成一定的角度的第一面；以及移动机构，使测定用夹具在铅垂方向移动。光学元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在铅垂方向分离。移动机构在进行前向测定或者侧向测定的情况下，使第一开口移动至第一光路的入射部的位置，在进行后向测定的情况下，使第二开口移动至第二光路的入射部的位置。

公开(公告)号：CN109211741A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201810708073.4

申请日：2018-07-02

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 泉谷悠介 ,  若山育央

IPC: G01N15/02

CPC classification number: G01N15/1434 ,  G01B11/08 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/51 ,  G01N21/53 ,  G01N2015/03 ,  G01N2015/1493 ,  G01N2021/015 ,  G01N2201/024 ,  G01N2201/0245 ,  G01N15/0205

Abstract: 本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。