一种线结构光标定平台、使用方法及标定系统

    公开(公告)号:CN111197957A

    公开(公告)日:2020-05-26

    申请号:CN201811372941.2

    申请日:2018-11-19

    Abstract: 本申请实施例属于视觉检测领域,涉及一种线结构光标定平台、使用方法及系统。本申请提供的技术方案包括底板、标定板、第一量具、第二量具及连接件;所述标定板设于所述底板上;所述第一量具、第二量具均通过连接件连接于所述底板远离所述标定板的一面,所述第一量具的高度大于所述第二量具,以使所述标定板与水平面形成倾角,采用标准化的测量器具,通过简单地组合,实现能够灵活通用地应用于多个不同场合的线结构光标定系统中,本平台无需再依据设备进行定制,利用已有且应用广泛的标准化器具,设计较少的元件,经过简单地组合就能适合广泛场合,通用型强,节省了大量定制时间,可多次重复利用,较大地节约了成本。

    一种插针系统
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110202346B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN201910586653.5

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 本发明涉及插针领域,具体涉及一种插针系统。包括治具安装有多个具有小孔的工件,且设置有用于视觉定位的标记;定位装置根据标记的位置获取治具上的各工件的小孔位置;点银浆装置在对应工件的小孔上进行点银浆操作;插针装置在小孔位置在对应工件的小孔上进行插针操作;所述点银浆装置设置在运输装置的点银浆工位处,所述插针装置设置在运输装置的插针工位处,所述运输装置带动治具分别移动至点银浆工位和插针工位处。本发明实现自动点银浆和插针,具有良好稳定性,工件良率要求达到99.5%,特别是采用开始的视觉定位功能,配合特殊的治具,获取所述工件的小孔位置,避免由于加工对象需表面涂锡膏而增加加工难度的问题。

    光源装置、表面缺陷检测方法和装置

    公开(公告)号:CN110501343B

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN201910784360.8

    申请日:2019-08-23

    Abstract: 本发明涉及一种光源装置、表面缺陷检测方法和装置。该光源装置包括:底板,设有出光口;球壳,为半球状轮廓,扣于所述底板,并与所述底板合围成半球形腔体;所述球壳上与所述出光口相对的位置设有观察窗;所述球壳的内壁涂有漫反射涂层;光源,设于所述底板上的预定位置,用于提供光照;所述光照被漫反射涂层进行漫反射后自所述出光口向腔体外出射,形成均匀的照射光;反射‑透射镜,设于所述腔体内,并遮挡在出光口和观察窗之间,用于使反射‑透射镜两侧的光线在射向所述反射‑透射镜时,一部分光线穿透、另一部分光线反射。上述光源装置、表面缺陷检测装置及方法可以避免在进行缺陷检测时看到相机的像,且物体表面的划痕和背景也可以被区分。

    一种插针系统
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110202346A

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201910586653.5

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 本发明涉及插针领域,具体涉及一种插针系统。包括治具安装有多个具有小孔的工件,且设置有用于视觉定位的标记;定位装置根据标记的位置获取治具上的各工件的小孔位置;点银浆装置在对应工件的小孔上进行点银浆操作;插针装置在小孔位置在对应工件的小孔上进行插针操作;所述点银浆装置设置在运输装置的点银浆工位处,所述插针装置设置在运输装置的插针工位处,所述运输装置带动治具分别移动至点银浆工位和插针工位处。本发明实现自动点银浆和插针,具有良好稳定性,工件良率要求达到99.5%,特别是采用开始的视觉定位功能,配合特殊的治具,获取所述工件的小孔位置,避免由于加工对象需表面涂锡膏而增加加工难度的问题。

    图像处理方法、装置、计算机设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN117710703A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311426139.8

    申请日:2023-10-30

    Inventor: 杨帅创 刘朋 曹锋

    Abstract: 本申请涉及图像处理方法、装置、计算机设备及可读存储介质,其中方法包括:获取模板图像的轮廓特征信息;根据轮廓特征信息,确定模板图像和待匹配图像在不同梯度方向的特征相似值;根据特征相似值和形状匹配值,确定待匹配图像的形状匹配结果。该方法在保证模板图像和待匹配图像形状匹配准确性的同时,优化不同梯度方向上特征相似值的贡献权重,可实现在形状匹配过程中仅根据梯度方向即可获取特征相似值,进而提高形状匹配速度。

    加工区域数据处理方法、装置、加工设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN117333444A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311266676.0

    申请日:2023-09-27

    Inventor: 李天晗 刘朋 曹锋

    Abstract: 本申请涉及加工区域数据处理方法、装置、加工设备及可读存储介质,其中方法包括:获取加工区域的深度图数据和区域特征信息;基于区域特征信息,对深度图数据进行坐标变换处理,确定坐标变换后的加工区域高度矩阵;根据加工区域高度矩阵的高度参考值,确定加工区域的基准高度矩阵;根据加工区域高度矩阵、基准高度矩阵和灰度计算模型,确定高度数据灰度图。该方法能计算出加工区域的高度数据灰度图,从而反映出所有加工位置(如拐角或凹槽的内外侧焊缝)的高度差信息,实现对所有加工位置的栅格化处理,便于后续加工状态(如焊缝状态)检测,从而能提高加工质量。

    一种线结构光标定平台、使用方法及标定系统

    公开(公告)号:CN111197957B

    公开(公告)日:2021-12-21

    申请号:CN201811372941.2

    申请日:2018-11-19

    Abstract: 本申请实施例属于视觉检测领域,涉及一种线结构光标定平台、使用方法及系统。本申请提供的技术方案包括底板、标定板、第一量具、第二量具及连接件;所述标定板设于所述底板上;所述第一量具、第二量具均通过连接件连接于所述底板远离所述标定板的一面,所述第一量具的高度大于所述第二量具,以使所述标定板与水平面形成倾角,采用标准化的测量器具,通过简单地组合,实现能够灵活通用地应用于多个不同场合的线结构光标定系统中,本平台无需再依据设备进行定制,利用已有且应用广泛的标准化器具,设计较少的元件,经过简单地组合就能适合广泛场合,通用性强,节省了大量定制时间,可多次重复利用,较大地节约了成本。

    光源装置、表面缺陷检测方法和装置

    公开(公告)号:CN110501343A

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201910784360.8

    申请日:2019-08-23

    Abstract: 本发明涉及一种光源装置、表面缺陷检测方法和装置。该光源装置包括:底板,设有出光口;球壳,为半球状轮廓,扣于所述底板,并与所述底板合围成半球形腔体;所述球壳上与所述出光口相对的位置设有观察窗;所述球壳的内壁涂有漫反射涂层;光源,设于所述底板上的预定位置,用于提供光照;所述光照被漫反射涂层进行漫反射后自所述出光口向腔体外出射,形成均匀的照射光;反射-透射镜,设于所述腔体内,并遮挡在出光口和观察窗之间,用于使反射-透射镜两侧的光线在射向所述反射-透射镜时,一部分光线穿透、另一部分光线反射。上述光源装置、表面缺陷检测装置及方法可以避免在进行缺陷检测时看到相机的像,且物体表面的划痕和背景也可以被区分。

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