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公开(公告)号：CN106197187B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201610565904.8
申请日：2016-07-18
Applicant: 安徽普源分离机械制造有限公司
IPC: G01B3/18
Abstract: 本发明公开了一种外径千分尺校检方法，包括：S1、搭建检测架，并使该检测架包括检测平台、第一升降杆、第二升降杆、以及设置在第一升降杆和第二升降杆上的第一托架和第二托架；S2、将外径千分尺中的尺架与检测平台固定，将外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别放置在第一托架和第二托架上；S3、放置标准量块，并使其位于测砧和测微螺杆之间；S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106643372B
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201611235105.0
申请日：2016-12-28
Applicant: 安徽普源分离机械制造有限公司
IPC: G01B3/18
Abstract: 本发明公开了一种大小型外径千分尺检测装置，包括：水平台、第一固定机构、第二固定机构和检测机构，其中：水平台上设有限位块；第一固定机构包括竖直布置的立架和安装立架上并可在立架上进行上下滑动的夹持头；第二固定机构包括第一托架、第二托架和固定组件；第一托架、第二托架均位于限位块靠近第一固定机构的一侧且二者之间的间距可调；固定组件位于第一托架、第二托架远离限位块的一侧且固定组件与限位块之间的间距可调；检测机构包括作为检测参照的标准量块。本发明可以有效满足各种不同规格的外径千分尺的检测需求。
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公开(公告)号：CN106643372A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611235105.0
申请日：2016-12-28
Applicant: 安徽普源分离机械制造有限公司
IPC: G01B3/18
CPC classification number: G01B3/18
Abstract: 本发明公开了一种大小型外径千分尺检测装置，包括：水平台、第一固定机构、第二固定机构和检测机构，其中：水平台上设有限位块；第一固定机构包括竖直布置的立架和安装立架上并可在立架上进行上下滑动的夹持头；第二固定机构包括第一托架、第二托架和固定组件；第一托架、第二托架均位于限位块靠近第一固定机构的一侧且二者之间的间距可调；固定组件位于第一托架、第二托架远离限位块的一侧且固定组件与限位块之间的间距可调；检测机构包括作为检测参照的标准量块。本发明可以有效满足各种不同规格的外径千分尺的检测需求。
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公开(公告)号：CN106152889A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201610565881.0
申请日：2016-07-18
Applicant: 安徽普源分离机械制造有限公司
IPC: G01B3/18
CPC classification number: G01B3/18
Abstract: 本发明公开了一种大型外径千分尺固定式校检装置，包括：检测平台、标准量块、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表、安装架和固定机构，标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照；检测平台用于支撑，固定机构用于对外径千分尺中的尺架进行锁紧固定，防止其在校验过程中发生移动；第一升降杆、第二升降杆相互配合用于对外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并对其高度进行调节；第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检，确保二者处于同一水平面内；第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检，确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内。本发明校验结果可靠。
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公开(公告)号：CN106152889B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201610565881.0
申请日：2016-07-18
Applicant: 安徽普源分离机械制造有限公司
IPC: G01B3/18
Abstract: 本发明公开了一种大型外径千分尺固定式校检装置，包括：检测平台、标准量块、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表、安装架和固定机构，标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照；检测平台用于支撑，固定机构用于对外径千分尺中的尺架进行锁紧固定，防止其在校验过程中发生移动；第一升降杆、第二升降杆相互配合用于对外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并对其高度进行调节；第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检，确保二者处于同一水平面内；第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检，确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内。本发明校验结果可靠。
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公开(公告)号：CN106197187A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610565904.8
申请日：2016-07-18
Applicant: 安徽普源分离机械制造有限公司
IPC: G01B3/18
CPC classification number: G01B3/18
Abstract: 本发明公开了一种外径千分尺校检方法，包括：S1、搭建检测架，并使该检测架包括检测平台、第一升降杆、第二升降杆、以及设置在第一升降杆和第二升降杆上的第一托架和第二托架；S2、将外径千分尺中的尺架与检测平台固定，将外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别放置在第一托架和第二托架上；S3、放置标准量块，并使其位于测砧和测微螺杆之间；S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致。
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