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公开(公告)号：CN101846926A
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN201010138653.8
申请日：2010-03-16
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G03G15/043 , G03G15/00
CPC classification number: G03G15/326 , G03G15/0435 , G06K15/1209 , G06K15/129 , H04N1/02865 , H04N1/02885 , H04N1/0306 , H04N1/113 , H04N2201/02452 , H04N2201/02479
Abstract: 本发明提供了一种曝光装置、图像形成设备以及曝光控制方法。曝光装置包括多个发光元件、光量检测单元、控制器、多个保持单元和连接单元。控制器根据光量检测单元所检测到的光量和预定基准值之间的比较结果来依次确定各个发光元件的控制值。多个保持单元分别被配置用于发光元件。每个保持单元保持控制器的控制电压。当控制器将要依次确定多个发光元件中的一部分发光元件的控制值时，在控制器确定所述一部分发光元件中最先被确定控制值的一个或多个发光元件的控制值之前，连接单元将控制器和与所述一个或多个发光元件相对应的保持单元连接起来。
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公开(公告)号：CN100511002C
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200610137479.9
申请日：2006-10-27
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: B41J2/473 , G03G15/0194 , G03G15/0435 , G03G2215/0119 , G03G2215/0158
Abstract: 本发明提供了图像形成装置及对要形成的图像进行校正的方法。该图像形成装置包括转动多面镜和用来对图像区域沿预定方向的错位进行校正的校正元件。该校正元件通过对用于对由设置在转动多面镜处的多个反射表面中的任一反射表面反射和偏转的光束进行调制的图像数据进行校正来进行所述校正，其中所述光束沿所述预定方向扫描被照射体；对图像数据的校正每数据单位地进行，所述数据单位是在对同一反射表面处反射和偏转的光束进行调制时使用的，并且对图像数据的校正根据由被反射和偏转的光束形成在所述被照射体上的图像区域在所述预定方向上的错位量来进行，所述错位量针对所述转动多面镜的各反射表面预先被测量。
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公开(公告)号：CN101846926B
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201010138653.8
申请日：2010-03-16
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G03G15/043 , G03G15/00
CPC classification number: G03G15/326 , G03G15/0435 , G06K15/1209 , G06K15/129 , H04N1/02865 , H04N1/02885 , H04N1/0306 , H04N1/113 , H04N2201/02452 , H04N2201/02479
Abstract: 本发明提供了一种曝光装置、图像形成设备以及曝光控制方法。曝光装置包括多个发光元件、光量检测单元、控制器、多个保持单元和连接单元。控制器根据光量检测单元所检测到的光量和预定基准值之间的比较结果来依次确定各个发光元件的控制值。多个保持单元分别被配置用于发光元件。每个保持单元保持控制器的控制电压。当控制器将要依次确定多个发光元件中的一部分发光元件的控制值时，在控制器确定所述一部分发光元件中最先被确定控制值的一个或多个发光元件的控制值之前，连接单元将控制器和与所述一个或多个发光元件相对应的保持单元连接起来。
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公开(公告)号：CN1971438A
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200610137479.9
申请日：2006-10-27
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: B41J2/473 , G03G15/0194 , G03G15/0435 , G03G2215/0119 , G03G2215/0158
Abstract: 本发明提供了图像形成装置及对要形成的图像进行校正的方法。该图像形成装置包括转动多面镜和用来对图像区域沿预定方向的错位进行校正的校正元件。该校正元件通过对用于对由设置在转动多面镜处的多个反射表面中的任一反射表面反射和偏转的光束进行调制的图像数据进行校正来进行所述校正，其中所述光束沿所述预定方向扫描被照射体；对图像数据的校正每数据单位地进行，所述数据单位是在对同一反射表面处反射和偏转的光束进行调制时使用的，并且对图像数据的校正根据由被反射和偏转的光束形成在所述被照射体上的图像区域在所述预定方向上的错位量来进行，所述错位量针对所述转动多面镜的各反射表面预先被测量。
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