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公开(公告)号：CN102209969B
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN200880131943.0
申请日：2008-11-12
Applicant: 富士通株式会社
IPC: H04N1/028
CPC classification number: G06K9/38 , G06K9/00456 , G06K9/00463 , G06K2209/01
Abstract: 为了高精度地从包含浓淡值对比度不同的部分的图像数据中确定字符区域，字符区域提取装置接收对被摄体进行摄像而得到的图像数据，利用第1阈值将图像数据整体二值化，并分离成像素数饱和的反射区域和像素值不饱和的非反射区域。接着，利用第2阈值将反射区域二值化并分离成字符区域和背景区域。同样地，利用第3阈值将非反射区域二值化并分离成字符区域和背景区域。合并反射区域和非反射区域各自的字符区域，并确定图像数据中的字符区域的位置信息。
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公开(公告)号：CN102209969A
公开(公告)日：2011-10-05
申请号：CN200880131943.0
申请日：2008-11-12
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G06K9/38
CPC classification number: G06K9/38 , G06K9/00456 , G06K9/00463 , G06K2209/01
Abstract: 为了高精度地从包含浓淡值对比度不同的部分的图像数据中确定字符区域，字符区域提取装置接收对被摄体进行摄像而得到的图像数据，利用第1阈值将图像数据整体二值化，并分离成像素数饱和的反射区域和像素值不饱和的非反射区域。接着，利用第2阈值将反射区域二值化并分离成字符区域和背景区域。同样地，利用第3阈值将非反射区域二值化并分离成字符区域和背景区域。合并反射区域和非反射区域各自的字符区域，并确定图像数据中的字符区域的位置信息。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN119513623A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411120040.X
申请日：2024-08-15
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 原伸之
IPC: G06F18/23 , G06N3/0475 , G06N3/047 , G06N3/045
Abstract: 提供了数据处理系统、存储程序的存储介质和数据处理方法。数据处理系统包括：伊辛机，其基于伊辛型评估函数来计算第一划分候选；以及信息处理装置，其被配置成：从伊辛机获得表示单独的第一划分模式的第一划分候选的划分候选信息；选择第一划分候选之一并且将第一聚类划分成第二聚类和第三聚类；存储未被选择的第一划分候选的划分候选信息；基于所存储的划分候选信息，确定是否存在与第二聚类的第二划分模式相对应的未被选择的第一划分候选；以及当确定存在未被选择的第一划分候选时，选择第二聚类的第二划分候选之一并且将第二聚类划分成第四聚类和第五聚类。
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公开(公告)号：CN119493934A
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202410884292.3
申请日：2024-07-03
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G06F17/10 , G06F18/231
Abstract: 本公开内容提供了存储运算程序的计算机可读记录介质、运算方法和信息处理装置。一种针对包括节点和设置有权重值的边的目标执行切割问题计算的程序，该切割问题计算包括计算当节点被划分成两组时被切割的边的总权重值，该程序使计算机执行以下操作：在没有指定划分数的情况下执行切割问题计算，并从计算结果中指定权重值的总值满足第一条件的计算结果；指定满足第二条件的计算结果；执行其中指定了划分数的切割问题计算，并指定权重值的总值满足第三条件的计算结果；以及计算通过对权重值的总值进行归一化而获得的归一化的值，并从归一化的值中获取满足第四条件的划分数。
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公开(公告)号：CN101520852B
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN200810080951.9
申请日：2008-02-29
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G06K9/4604 , G06K9/00624
Abstract: 本发明提供了消失点检测装置和检测方法。该消失点检测装置包括：线段检测单元，其获得输入的图像的水平线段或垂直线段；交点集合获得装置，其获得所述水平线段的交点的集合或垂直线段的交点的集合；候选消失点检测单元，确定候选消失点；消失点确定单元，根据候选消失点检测单元确定的候选消失点，确定最终的消失点，其中，候选消失点检测单元是以下的一种或更多种：基于扇形束投影与密度估计的候选消失点检测单元，对输入的图像进行扇形束投影，将高密度扇束区中的点密度最大的交点作为候选消失点；基于扇形束投影与聚类的候选消失点检测单元，进行扇形束投影，并得到高密度扇束区中的交点的多个聚类，将各聚类的中心作为候选消失点。
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公开(公告)号：CN101520852A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200810080951.9
申请日：2008-02-29
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G06K9/4604 , G06K9/00624
Abstract: 本发明提供了消失点检测装置和检测方法。该消失点检测装置包括：线段检测单元，其获得输入的图像的水平线段或垂直线段；交点集合获得装置，其获得所述水平线段的交点的集合或垂直线段的交点的集合；候选消失点检测单元，确定候选消失点；消失点确定单元，根据候选消失点检测单元确定的候选消失点，确定最终的消失点，其中，候选消失点检测单元是以下的一种或更多种：基于扇形束投影与密度估计的候选消失点检测单元，对输入的图像进行扇形束投影，将高密度扇束区中的点密度最大的交点作为候选消失点；基于扇形束投影与聚类的候选消失点检测单元，进行扇形束投影，并得到高密度扇束区中的交点的多个聚类，将各聚类的中心作为候选消失点。
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