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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109030299B
公开(公告)日：2020-08-21
申请号：CN201811295092.5
申请日：2018-11-01
Applicant: 山东理工大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置的测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（2）、激光器（4）和GRIN透镜（6），GRIN透镜（6）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节GRIN透镜（6）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述GRIN透镜（6）置于透镜调节装置内。通过本高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置的测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度样品的颗粒粒度测量。
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公开(公告)号：CN109030320A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810863506.3
申请日：2018-08-01
Applicant: 山东理工大学
IPC: G01N15/10 , G01N21/47 , G01N27/447
CPC classification number: G01N15/1031 , G01N21/47 , G01N27/447
Abstract: 全光纤光路电泳光散射Zeta电位测量装置及测量方法，属于Zeta电位测量技术领域。其特征在于：激光器(15)的输出端连接分路器(13)的输入端，分路器(13)的两个输出端分别输出入射光信号和参考光信号，入射光信号和参考光信号分别接入入射光路和参考光路中，入射光信号经过样品池(3)形成散射光信号，散射光信号与参考光信号同时接入耦合器(6)，耦合器(6)连接光电转换装置，光电转换装置的输出端连接计数器(10)。在本全光纤光路电泳光散射Zeta电位测量装置及测量方法中，利用光纤将入射光路和参考光路集成在一起，替代了传统电泳光散射装置的光路，不易受灰尘和外界杂散光的干扰，可以有效地提高信噪比，并且布局更为灵活。
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公开(公告)号：CN109030299A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201811295092.5
申请日：2018-11-01
Applicant: 山东理工大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（2）、激光器（4）和GRIN透镜（6），GRIN透镜（6）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节GRIN透镜（6）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述GRIN透镜（6）置于透镜调节装置内。通过本高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度样品的颗粒粒度测量。
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公开(公告)号：CN109030298B
公开(公告)日：2020-08-21
申请号：CN201811295091.0
申请日：2018-11-01
Applicant: 山东理工大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（5）、激光器（8）和GRIN透镜（9），GRIN透镜（9）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节透镜（5）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述透镜（5）置于透镜调节装置内。通过本利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度测试样品的粒度测量。
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公开(公告)号：CN109030298A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201811295091.0
申请日：2018-11-01
Applicant: 山东理工大学
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（5）、激光器（8）和GRIN透镜（9），GRIN透镜（9）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节透镜（5）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述透镜（5）置于透镜调节装置内。通过本后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度测试样品的粒度测量。
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