一种定点检测晶体硅中掺杂元素含量的方法

    公开(公告)号:CN119804612A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202510000162.3

    申请日:2025-01-02

    Abstract: 本发明公开了一种定点检测晶体硅中掺杂元素含量的方法,涉及质谱检测技术领域。采用二次离子质谱法和电感耦合等离子体质谱法联用对含有掺杂元素的晶体硅中某一离子深度中掺杂元素含量进行定点检测。具体的,采用二次离子质谱法检测晶体硅样品的单位信号强度并计算信号总强度,采用电感耦合等离子体质谱法检测晶体硅样品中掺杂元素的总含量,利用单位信号强度uβ、总信号强度和掺杂元素的总含量,计算得晶体硅样品中某一离子深度下掺杂元素含量。本发明选择二次离子质谱法和电感耦合等离子体质谱法联用以实现掺杂元素的定量定点分析,保证了检测准确性,还避免了二次离子质谱法中标准样品的使用,克服了其在检测元素分布含量上的使用局限性。

    超材料周期结构单元幅相特性测量系统及方法

    公开(公告)号:CN117491785A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311494580.X

    申请日:2023-11-10

    Abstract: 本发明属于微波测量领域,涉及超材料周期结构单元幅相特性测量系统及方法。测量系统包括测量夹具、外部场源、待测周期结构单元和矢量网络分析仪,矢量网络分析仪与测量夹具电性连接,待测周期结构单元置于测量夹具内部,外部场源置于测量夹具外部,外部场源将外部信号输入到待测周期结构单元,矢量网络分析仪测量待测周期结构单元受外部信号影响下的测量系统反射参数。测量方法包括将待测周期结构单元置于短路面与内导体空隙处,施加不同的外部信号并记录测量系统反射参数,根据反射参数通过电磁理论计算得到待测周期结构单元的幅相特性。本发明实现了超材料周期结构单元幅相特性的测量,测量系统结构简单,操作方便,测量结果准确。

    一种隐身材料RCS法雷达反射率测试系统的校准方法

    公开(公告)号:CN111426702A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010434403.2

    申请日:2020-05-20

    Abstract: 本发明涉及一种隐身材料RCS法雷达反射率测试系统的校准方法,设置仪器参数;选择相应的空白金属板和标准金属板;测量系统背景的反射功率;测量空白金属板的反射功率;测量标准金属板的反射功率;测试系统根据系统背景的反射功率、空白金属板的反射功率、标准金属板的反射功率计算得到标准金属板反射率测量值;将6次重复测量结果的算术平均值作为标准金属板反射率实测值,根据标准金属板反射率实测值与标准金属板反射率标准值计算得到测试系统反射率测量结果示值误差;根据贝塞尔公式计算测量结果重复性。本发明经济实用、操作简便;校准的准确率高;能够保障RCS法雷达反射率测试系统的测量结果准确性,保障雷达吸波材料的性能可靠性。

    反射率标准样板用涂料及反射率标准样板的制备方法

    公开(公告)号:CN110358401A

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201910622358.0

    申请日:2019-07-10

    Abstract: 本发明提供了一种反射率标准样板用涂料的制备方法,方法包括:涂料组分制备步骤,包括:第一组分制备步骤、第二组分制备步骤和第三组分制备步骤;其中,第一组分制备步骤包括:根据第一组分含量,称取磁性材料和导电填料,依次混合、研磨所述磁性材料和导电填料,得到第一组分;第二组分制备步骤包括:称取橡胶,塑炼所述橡胶,得到第二组分;第三组分制备步骤包括:称取、研磨树脂,加入溶剂溶解所述树脂以调整固体含量,得到第三组分;组分混合步骤,根据预定组分含量称取、混合所述第一组分、第二组分和第三组分,得到所述反射率标准样板用涂料。通过本发明的制备方法制备的涂料能够有效吸波,能实现对隐身材料反射率指标量值的准确测量。

    一种对射式气体检测仪校准光池及校准方法

    公开(公告)号:CN116879164A

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202210276208.0

    申请日:2022-03-21

    Abstract: 本发明涉及一种对射式气体检测仪校准光池,属于气体检测仪校准技术领域,大桶两端分别设置有第一支架和第二支架,第一支架内安装有可拆卸连接的第一大桶透明窗片和第一快门,第二支架内安装有可拆卸连接的第二大桶透明窗片和第二快门,大桶的内表面与第一大桶透明窗片、第二大桶透明窗片之间共同形成密封的光池,所述第一支架或第二支架相对于大桶可移动;对射式气体检测仪校准光池还包括小桶,小桶套设于大桶内,小桶能形成密封的小桶光池。本发明涉及还涉及一种对射式气体检测仪校准方法。本发明所述校准光池的光池长度可调整,且透明窗片可更换、可拆除,大桶光池内还可置入内装特定浓度气体的小桶光池,具有很好的检测效果。

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