公开(公告)号：CN110967512B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN201910935619.4

申请日：2019-09-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 立谷洋大 ,  木西基 ,  辻智悠 ,  鹤冈泰明 ,  米田圣

IPC: G01N35/00

Abstract: 本发明公开了一种测定装置及精度管理的方法。通过一种测定装置解决精度管理的技术问题，该测定装置具备：测定用于进行精度管理的管理试样的测定部、显示部、在所述显示部显示用于设定在所述精度管理中使用的评价基准的输入界面的处理部，所述处理部基于所述管理试样的测定结果及所述评价基准在所述显示部显示检查项目的精度管理结果。

公开(公告)号：CN110967512A

公开(公告)日：2020-04-07

申请号：CN201910935619.4

申请日：2019-09-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 立谷洋大 ,  木西基 ,  辻智悠 ,  鹤冈泰明 ,  米田圣

IPC: G01N35/00

Abstract: 本发明公开了一种测定装置及精度管理的方法。通过一种测定装置解决精度管理的技术问题，该测定装置具备：测定用于进行精度管理的管理试样的测定部、显示部、在所述显示部显示用于设定在所述精度管理中使用的评价基准的输入界面的处理部，所述处理部基于所述管理试样的测定结果及所述评价基准在所述显示部显示检查项目的精度管理结果。