公开(公告)号：CN111426610B

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN201910019536.0

申请日：2019-01-09

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 杜绪兵 ,  邓飞 ,  喻佳俊 ,  朱星高 ,  刘平 ,  代新 ,  黄凯彬 ,  刘今朝 ,  陈颖

IPC: G01N15/02 ,  G01N21/53 ,  G01N27/626

Abstract: 本发明涉及一种颗粒物粒径测量系统的质谱仪。该颗粒物粒径测量系统包括激光产生机构、真空腔和散射光收集机构。其中，所述激光产生机构用于产生两束平行的激光，并将所述激光导入至所述真空腔内。在所述真空腔内，待测颗粒物飞过该两束平行的激光并产生散射光。散射光收集机构采用前端收集组件、光纤组件以及光电探测组件，可以有效缩短两测径激光束之间的距离，减少粒子飞过两激光束时发生的赶超现象，提高颗粒物测量的准确性。而通过减小两测径激光束之间的距离，可以降低测量过程中由于粒子束发散引起的影响，有利于提高粒子的检测效率。

公开(公告)号：CN111426610A

公开(公告)日：2020-07-17

申请号：CN201910019536.0

申请日：2019-01-09

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 杜绪兵 ,  邓飞 ,  喻佳俊 ,  朱星高 ,  刘平 ,  代新 ,  黄凯彬 ,  刘今朝 ,  陈颖

IPC: G01N15/02 ,  G01N27/62

Abstract: 本发明涉及一种颗粒物粒径测量系统的质谱仪。该颗粒物粒径测量系统包括激光产生机构、真空腔和散射光收集机构。其中，所述激光产生机构用于产生两束平行的激光，并将所述激光导入至所述真空腔内。在所述真空腔内，待测颗粒物飞过该两束平行的激光并产生散射光。散射光收集机构采用前端收集组件、光纤组件以及光电探测组件，可以有效缩短两测径激光束之间的距离，减少粒子飞过两激光束时发生的赶超现象，提高颗粒物测量的准确性。而通过减小两测径激光束之间的距离，可以降低测量过程中由于粒子束发散引起的影响，有利于提高粒子的检测效率。

公开(公告)号：CN209656506U

公开(公告)日：2019-11-19

申请号：CN201920033610.X

申请日：2019-01-09

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 杜绪兵 ,  邓飞 ,  喻佳俊 ,  朱星高 ,  刘平 ,  代新 ,  黄凯彬 ,  刘今朝 ,  陈颖

IPC: G01N15/02 ,  G01N27/62

Abstract: 本实用新型涉及一种颗粒物散射光收集装置以及激光测径系统和质谱仪，该颗粒物散射光收集装置包括前端收集组件、光纤组件以及光电探测组件；前端收集组件用于收集并汇聚散射光；光纤组件用于传导前端收集组件汇聚的散射光；光电探测组件与光纤组件对应，光电探测组件用于接收光纤组件传导的光束，并将光束的光信号转化成电脉冲信号。该颗粒物散射光收集装置可以提高颗粒物测量的准确性和效率。本实用新型还涉及一种激光测径系统和质谱仪，该激光测径系统的几何尺寸能够有效地缩小，各装置之间的结构也更加紧凑，减少了激光测径系统的安装空间，使质谱仪内部的结构更合理，同时散射光收集装置在质谱仪中的安装和升级也更为方便。

公开(公告)号：CN210071591U

公开(公告)日：2020-02-14

申请号：CN201920218903.5

申请日：2019-02-21

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 杜绪兵 ,  邓飞 ,  喻佳俊 ,  朱星高 ,  刘平 ,  代新 ,  黄凯彬 ,  刘今朝 ,  陈颖

IPC: G01N15/02 ,  G01N27/62

Abstract: 本实用新型公开了一种真空过渡装置及含有该真空过渡装置的质谱仪。该真空过渡装置通过在一体成型的真空腔体内开设第一级真空腔和第二级真空腔，之间通过真空分级块隔开并连通，形成多级真空过渡系统。具有该多级真空过渡系统的真空过渡装置应用在质谱仪中时，能够有效缩短电离激光距离空气动力学透镜出口的距离，可以减少粒子飞出透镜后的发散现象对仪器打击率的影响，提高仪器的打击率，从而提高仪器单位时间获得谱峰信号的数量。该真空过渡装置结构简单，简化了传统的质谱仪的真空结构，从而有利于降低仪器的整体高度尺寸，缩小仪器的体积。该真空过渡装置有利于大大减小真空过渡腔体的体积，有利于减少真空过渡腔抽真空的时间。

公开(公告)号：CN209656505U

公开(公告)日：2019-11-19

申请号：CN201822039316.8

申请日：2018-12-06

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 邓飞 ,  杜绪兵 ,  喻佳俊 ,  朱星高 ,  刘平 ,  代新 ,  黄凯彬 ,  刘今朝 ,  陈颖

IPC: G01N15/02 ,  G01N27/62

Abstract: 本实用新型涉及一种用于颗粒物粒径测量的激光测径系统，该激光测径系统包括激光器、分光装置、真空反射装置、基板、第一固定板以及第二固定板；激光器设在基板上，且激光器能够相对于基板移动；分光装置设在第一固定板上，用于将激光器发出的一束激光分成两束平行的激光束；真空反射装置设在第二固定板上，用于将分光装置分成的两束平行的激光束反射入质谱仪的真空腔。该激光测径系统利用反射的原理，将一束激光均匀的分成两束，避免了两个激光器能量衰减幅度不同，影响测径系统的准确性和灵敏度的问题。本实用新型涉及的质谱仪中的激光测径系统只需一个激光器，降低了激光测径系统的占用空间，使仪器结构更紧凑，同时降低了成本。