公开(公告)号：CN106575921A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201580034143.7

申请日：2015-06-18

Applicant: 微芯片科技公司

Inventor： A.梅尼克 ,  R.蒂鲁马拉 ,  M.谭 ,  S.克鲁利

IPC: H02M3/1584 ,  H02M3/156 ,  H02M3/158

CPC classification number: H03K17/162 ,  H02M1/08 ,  H02M3/1584 ,  H02M2003/1586

Abstract: 在相邻通道中的开关转换期间，将比较器感测输入与电流感测电阻器断开。相反，所述感测输入接收在所述转换之前采样的幅值和转换速率的信号。

公开(公告)号：CN106797114A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201580034099.X

申请日：2015-06-19

Applicant: 微芯片科技公司

Inventor： A.梅尼克 ,  R.蒂鲁马拉 ,  M.谭 ,  S.克鲁利

IPC: H02H3/04 ,  H02H3/08 ,  H02H3/093

CPC classification number: G01R31/2621 ,  G01R31/025 ,  H02H3/044 ,  H02H3/08 ,  H02H3/093

Abstract: 本发明提供了一种出于保护负载免于过流的目的、检测功率MOSFET中持续短路的电路和方法。所述方法包括：确定电路中的故障状况，所述电路包括开关，所述开关设有栅极、第一端子和第二端子，所述第一端子耦接到负载并且所述第二端子耦接到电流感测元件；以及在消隐延迟后，将所述电流感测元件处的电压与基准电压进行对比，如果所述电流感测元件处的所述电压超过所述基准电压，那么使指示故障状况的信号生效。

公开(公告)号：CN105935004A

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201480063545.5

申请日：2014-11-21

Applicant: 微芯片科技公司

Inventor： A.梅尼克

IPC: H05B33/08

CPC classification number: H05B33/0845 ,  H05B33/0815 ,  H05B33/0818 ,  Y02B20/346

Abstract: 本发明包括一种与一串发光二极管(LED)一起使用的调光开关。所述调光开关包括以共源共栅方案驱动的双极性结型晶体管(BJT)。所述调光开关还包括电路，以当调光输入信号高时使驱动所述BJT的基极的电流偏移，从而向所述LED提供受控量的电流。

公开(公告)号：CN105935004B

公开(公告)日：2018-02-06

申请号：CN201480063545.5

申请日：2014-11-21

Applicant: 微芯片科技公司

Inventor： A.梅尼克

IPC: H05B33/08

CPC classification number: H05B33/0845 ,  H05B33/0815 ,  H05B33/0818 ,  Y02B20/346

Abstract: 本发明包括一种与一串发光二极管(LED)一起使用的调光开关。所述调光开关包括以共源共栅方案驱动的双极性结型晶体管(BJT)。所述调光开关还包括电路，以当调光输入信号高时使驱动所述BJT的基极的电流偏移，从而向所述LED提供受控量的电流。