用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法

    公开(公告)号:CN106461860A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201480080021.7

    申请日:2014-06-17

    Abstract: 本发明涉及一种用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法,所述方法包括以下步骤:在光源和所述光学组件之间的光路中设置模式群分离光纤;以及按所述模式群分离光纤的纤芯中心和纤芯半径之间的离散间隔,将波长为λt的光的基准脉冲从所述光源经由所述模式群分离光纤注入到所述光学组件中。所述模式群分离光纤是具有α分布渐变折射率纤芯的多模光纤,其中α值被选择成使得所述模式群分离光纤在波长λt处满足以下标准:公式(I)其中:Δτ是连续的模式群之间的时间延迟差;L是所述模式群分离光纤的长度;以及ΔTREF是所述基准脉冲的四分之一最大值全宽度。

    抗弯曲的多模光纤和光学系统

    公开(公告)号:CN103323907A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201210277442.1

    申请日:2012-08-06

    CPC classification number: G02B6/0288 G02B6/0281 G02B6/0365

    Abstract: 本发明涉及一种抗弯曲的多模光纤和光学系统,其中该多模光纤包括:中央纤芯,其由外光包层所包住,其中,所述中央纤芯的外半径约为35微米以上,所述中央纤芯的最大折射率值为n0,所述中央纤芯相对于所述外光包层具有渐变折射率分布,以及所述中央纤芯具有一定的相对折射率差;内包层,其位于所述中央纤芯和所述外光包层之间;凹槽,其位于所述内包层和所述外光包层之间,其中,所述凹槽具有一定的体积分。该多模光纤展现出降低的弯曲损耗。

    用于表征光纤的光学性质的方法

    公开(公告)号:CN103162938B

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201210548574.3

    申请日:2012-12-17

    Inventor: F·J·阿赫滕

    CPC classification number: G01N21/84 G01M11/31

    Abstract: 本发明涉及一种用于表征光纤的光学性质的方法,用于确定光纤的一个或多个光学性质。更具体地,本方法在无需基于不同的测量设备进行实验测试的情况下提供用于评定多模光纤的解决方案。根据本发明,使针对被测光纤的大量手动(操作员)处理最小化。

    高带宽的耐辐射多模光纤

    公开(公告)号:CN102768382B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201210130363.8

    申请日:2012-04-27

    CPC classification number: G02B6/0288 G02B6/0281 G02B6/03627

    Abstract: 一种多模光纤,包括中央纤芯和外包层(例如,外光包层)。通常,该光纤的中央纤芯是凹式的中央纤芯,该中央纤芯具有α折射率分布(即,渐变折射率分布)、外半径为r1并且相对于外包层的最大折射率差为Δn1。该中央纤芯的α折射率分布在该中央纤芯的外半径r1处具有与相对于外包层的折射率差Δnend相对应的最小折射率。示例性光纤的实施例可以包括内包层,该内包层的外半径为r2、宽度为w2并且相对于外包层的折射率差为Δn2。示例性光纤的实施例可以包括埋槽,该埋槽的外半径为r3、宽度为w3并且相对于外包层的折射率差为Δn3。此外,示例性光纤的实施例可以包括中间包层,该中间包层的外半径为r4、宽度为w4并且相对于外包层的折射率差为Δn4。

    多模光纤和光学系统
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102736169A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210088701.6

    申请日:2012-03-29

    CPC classification number: G02B6/0288 G02B6/0281 G02B6/0365

    Abstract: 本发明涉及一种多模光纤和光学系统。所述多模光纤从中心到外周依次包括内纤芯、内包层、凹槽和外包层,其中:所述内纤芯的半径r1为22μm~28μm,所述内纤芯的渐变折射率分布的相对折射率差n0是所述内纤芯的最大折射率值且ncl是所述内纤芯的最小折射率值;所述内包层的半径为r2,所述内包层相对于所述外包层的折射率差为Δn2;所述凹槽的半径为r3,所述凹槽相对于所述外包层的负的折射率差为Δn3,所述凹槽包住所述内包层;0.0115807+0.0127543×(r2-r1)+0.00241674×1000Δn3-0.00124086×(r3-r2)×1000Δn3<2%;以及小于-20μm。

    用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法

    公开(公告)号:CN106461860B

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201480080021.7

    申请日:2014-06-17

    Abstract: 本发明涉及一种用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法,所述方法包括以下步骤:在光源和所述光学组件之间的光路中设置模式群分离光纤;以及按所述模式群分离光纤的纤芯中心和纤芯半径之间的离散间隔,将波长为λt的光的基准脉冲从所述光源经由所述模式群分离光纤注入到所述光学组件中。所述模式群分离光纤是具有α分布渐变折射率纤芯的多模光纤,其中α值被选择成使得所述模式群分离光纤在波长λt处满足以下标准:公式(I)其中:Δτ是连续的模式群之间的时间延迟差;L是所述模式群分离光纤的长度;以及ΔTREF是所述基准脉冲的四分之一最大值全宽度。

Patent Agency Ranking