一种MCU的ATE设备及其系统

    公开(公告)号:CN217385735U

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202220984327.7

    申请日:2022-04-26

    Abstract: 本实用新型公开一种MCU的ATE设备,用于对待测芯片进行测试,包括:电源管理模块、测试机台及测试模块,电源管理模块分别与测试机台、测试模块及待测芯片连接,并能够为测试机台、测试模块及待测芯片提供电源、激励信号和电压;所述待测芯片安装在检测模块上进行检测;所述测试模块包括测试程序存储单元,所述测试程序存储单元用于提供对待测芯片进行测试的测试程序。本实用新型还公开了一种包括MCU的ATE设备的MCU的ATE系统。通过测试模块提供待测芯片的测试程序,提高了芯片测试的测试效率,缩短了芯片测试的时间。

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