半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法

    公开(公告)号:CN108694435B

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN201810275030.1

    申请日:2018-03-29

    Inventor: 今任祐基

    Abstract: 本发明提供一种使用可有效率地削减消耗电流的新的方式的周期检测电路的半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法。所述半导体装置包括:边缘检测部(12),检测经由电波接收的数据信号(Data)的上升及下降的任一者的边缘;计数部(14),计算邻接的边缘的区间中的对应于数据信号(Data)而将事先决定频率的参考时钟信号的频率变成1/N(N为2以上的整数)的N分频时钟信号(Div2_Clock)的个数;分数计数部(18、20、22、24、30),计算对应于边缘与N分频时钟信号(Div2_Clock)的相位差所决定的N分频时钟信号的分数;以及第1相加部(28),使由计数部(14)所得的计数值的N倍的值与分数相加,并作为数据信号(Data)的周期输出。

    图像失真校正电路和显示装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113467083A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110325309.8

    申请日:2021-03-26

    Inventor: 今任祐基

    Abstract: 目的是提供能在不招致电路规模和功耗增大的情况下进行故障感测的图像失真校正电路和显示装置。本发明的图像失真校正电路具有:第一失真校正电路,对输入图像信号施加对1帧图像中产生的失真进行校正的映射处理来生成失真校正图像信号;检查区域设定电路,将比1帧图像的尺寸小的图像区域设定为检查图像区域;检查区域提取电路,从失真校正图像信号中提取担负检查图像区域的显示的部分,将其输出为第一检查图像信号;第二失真校正电路,将对输入图像信号中的担负检查图像区域的显示的部分施加了映射处理的信号输出为第二检查图像信号;和故障判定电路,在第一检查图像信号和第二检查图像信号彼此不同的情况下,判定为产生故障,输出故障感测信号。

    信号处理电路
    3.
    发明公开
    信号处理电路 审中-公开

    公开(公告)号:CN112243108A

    公开(公告)日:2021-01-19

    申请号:CN202010689234.7

    申请日:2020-07-16

    Abstract: 本发明提供一种信号处理电路,能够抑制电路规模的增大,并且与电路内的多个运算电路的运算动作并行地进行运算电路各自的异常检测。信号处理电路的特征在于,具有:n+1个(n为2以上的整数)运算电路,各自对被输入的数据执行规定运算处理;信号供给部,被供给从1个输入信号提取出的n个输入数据并且被供给与n个输入数据独立地被输入的测试数据,从n+1个运算电路依次选择1个运算电路来向该选择的1个运算电路供给测试数据并且向n+1个运算电路中的1个运算电路以外的n个运算电路供给n个输入数据;以及异常判定部,其基于1个运算电路对测试数据的运算结果,来判定是否在1个运算电路发生异常。

    图像失真校正电路和显示装置

    公开(公告)号:CN113467082B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202110325306.4

    申请日:2021-03-26

    Inventor: 今任祐基

    Abstract: 目的在于提供即使在进行失真校正的失真校正数据中产生异常也能够进行可视觉辨认的信息显示的图像失真校正电路和显示装置。在本发明的图像失真校正电路中,基于失真校正数据对输入图像信号施加失真校正处理来生成失真校正图像信号。进而,基于由失真校正数据所示的第一~第N失真校正坐标位置中的邻接的失真校正坐标位置彼此的间隔中的每一个,从第一~第N失真校正坐标位置中将产生异常的失真校正坐标位置判定为异常坐标位置,基于从第一~第N失真校正坐标位置中除异常坐标位置之外的至少2个失真校正坐标位置来校正失真校正数据中的与异常坐标位置相对应的部分。

    半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法

    公开(公告)号:CN108694435A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810275030.1

    申请日:2018-03-29

    Inventor: 今任祐基

    CPC classification number: G06K7/10386 G06K19/0723 G06K19/07749 G06K19/07773

    Abstract: 本发明提供一种使用可有效率地削减消耗电流的新的方式的周期检测电路的半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法。所述半导体装置包括:边缘检测部(12),检测经由电波接收的数据信号(Data)的上升及下降的任一者的边缘;计数部(14),计算邻接的边缘的区间中的对应于数据信号(Data)而将事先决定频率的参考时钟信号的频率变成1/N(N为2以上的整数)的N分频时钟信号(Div2_Clock)的个数;分数计数部(18、20、22、24、30),计算对应于边缘与N分频时钟信号(Div2_Clock)的相位差所决定的N分频时钟信号的分数;以及第1相加部(28),使由计数部(14)所得的计数值的N倍的值与分数相加,并作为数据信号(Data)的周期输出。

    图像失真校正电路和显示装置

    公开(公告)号:CN113467082A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110325306.4

    申请日:2021-03-26

    Inventor: 今任祐基

    Abstract: 目的在于提供即使在进行失真校正的失真校正数据中产生异常也能够进行可视觉辨认的信息显示的图像失真校正电路和显示装置。在本发明的图像失真校正电路中,基于失真校正数据对输入图像信号施加失真校正处理来生成失真校正图像信号。进而,基于由失真校正数据所示的第一~第N失真校正坐标位置中的邻接的失真校正坐标位置彼此的间隔中的每一个,从第一~第N失真校正坐标位置中将产生异常的失真校正坐标位置判定为异常坐标位置,基于从第一~第N失真校正坐标位置中除异常坐标位置之外的至少2个失真校正坐标位置来校正失真校正数据中的与异常坐标位置相对应的部分。

    摄像装置以及水平方向检测方法

    公开(公告)号:CN109302548B

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN201810810993.7

    申请日:2018-07-23

    Inventor: 今任祐基

    Abstract: 本发明提供一种能以简易的构成高精度地检测相机的水平角度的摄像装置以及水平方向检测方法。本发明的摄像装置具有:摄像部,对规定的被摄体进行摄影而获得图像数据;图像旋转部,使基于图像数据的显示图像在显示面上逐步地旋转;计数部,针对旋转而成的各显示图像,沿着显示面内的扫描线方向对显示图像所含的特定颜色的像素数进行计数,获得计数值;以及判定部,根据与旋转而成的各显示图像有关的计数值,判定摄像部的摄影角度的水平方向。

    半导体装置、周边装置控制系统、以及周边装置控制方法

    公开(公告)号:CN111506525A

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN201911348187.3

    申请日:2019-12-24

    Inventor: 今任祐基

    Abstract: 本发明提供即使在微型计算机应该管理的对象装置增加的情况下,也能够抑制该微型计算机的处理负担的增大、对相关的装置的负荷的增大的半导体装置、周边装置控制系统以及周边装置控制方法。包含:一个以上的管理模块(12),包含附随设置于各控制对象(70)多个寄存器(16),上述多个寄存器(16)存储与控制对象(70)各自的动作相关的信息;以及第一生成部(14),对管理模块(12)所包含的多个寄存器(16)的值进行预先决定的处理来生成集成值,该集成值是将多个寄存器(16)的值集成后的值,且该集成值通过外部的控制装置被刷新以及更新。

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