公开(公告)号：CN113391970B

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202110772402.3

申请日：2021-07-08

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 菅陆田 ,  李峰 ,  曹伟 ,  朱巍 ,  宁永波

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26

Abstract: 本发明公开了一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置，该方法包括识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组；在各控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各运算核心中装载相同的运算核心测试向量；获取待测异构众核处理器的设计频率，在测试环境中分别对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试；基于两两比较运算核心测试向量的第一运算结果得到运算核心测试向量的第一测试结果，并基于控制核心测试向量的第二运算结果得到控制核心测试向量的第二测试结果后，合并第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果。本发明实现了有效减少单片测试，降低测试成本，简化了异构众核处理器芯片的分类标准。

公开(公告)号：CN113391970A

公开(公告)日：2021-09-14

申请号：CN202110772402.3

申请日：2021-07-08

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 菅陆田 ,  李峰 ,  曹伟 ,  朱巍 ,  宁永波

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26

Abstract: 本发明公开了一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置，该方法包括识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组；在各控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各运算核心中装载相同的运算核心测试向量；获取待测异构众核处理器的设计频率，在测试环境中分别对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试；基于两两比较运算核心测试向量的第一运算结果得到运算核心测试向量的第一测试结果，并基于控制核心测试向量的第二运算结果得到控制核心测试向量的第二测试结果后，合并第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果。本发明实现了有效减少单片测试，降低测试成本，简化了异构众核处理器芯片的分类标准。