公开(公告)号：CN1150838A

公开(公告)日：1997-05-28

申请号：CN96190161.6

申请日：1996-06-12

Applicant: 日本钢管株式会社

Inventor： 望月正 ,  佐藤重臣 ,  秋吉孝则 ,  坂下明子 ,  石桥耀一

IPC: G01N1/02 ,  G01N33/20 ,  G01N21/63 ,  G01N21/89

CPC classification number: G01N33/20 ,  G01N1/04 ,  G01N2001/045

Abstract: 钢材表面存在的异常部分产生原因的检测方法，包括：将脉冲激光聚光，且将这样聚光后的脉冲激光照射在钢材表面上存在的异常部分及其周围，将处于钢材表面上的脉冲激光照射点的脉冲激光的脉冲能量密度限制在10KW/mm2到100MW/mm2范围内，使脉冲激光的照射点通过包含异常部分及其周围的区进行交错移动，使照射点的移动区中的钢材表面蒸发且微粒化，并以微粒形状采集钢材表面上的异常部分及其周围的试料，并且连续分析这样采集的微粒形状试料的成分组成以检测钢材表面产生的异常部分的产生原因。

公开(公告)号：CN1177100A

公开(公告)日：1998-03-25

申请号：CN97102221.6

申请日：1997-01-09

Applicant: 日本钢管株式会社

Inventor： 秋吉孝则 ,  坂下明子 ,  石桥耀一 ,  望月正 ,  佐藤重臣 ,  前川俊哉

IPC: G01N21/63

CPC classification number: G01N21/718 ,  G01N1/22

Abstract: 一种分析固体样品的方法,包括:产生一种具有频率至少为100Hz和半宽等于或小于1μs的脉冲激光束;确定激光的辐射区域;在惰性气体气流中辐射脉冲激光束使固体样品部分气化产生细小颗粒;将细小颗粒送到一探测器中;和在探测器中进行成分分析。设备包括:含有一个半导体激光器的激光振荡装置;聚焦激光束的聚焦装置,辐射聚焦的激光束以产生细小颗粒的辐射装置;进行元素分析的分析仪;及将细小颗粒传送到上述分析仪的传送装置。

公开(公告)号：CN1099586C

公开(公告)日：2003-01-22

申请号：CN96190161.6

申请日：1996-06-12

Applicant: 日本钢管株式会社

Inventor： 望月正 ,  佐藤重臣 ,  秋吉孝则 ,  坂下明子 ,  石桥耀一

IPC: G01N1/02 ,  G01N33/20 ,  G01N21/63 ,  G01N21/89

CPC classification number: G01N33/20 ,  G01N1/04 ,  G01N2001/045

Abstract: 钢材表面存在的异常部分产生原因的检测方法，包括：将脉冲激光聚光，且将这样聚光后的脉冲激光照射在钢材表面上存在的异常部分及其周围，将处于钢材表面上的脉冲激光照射点的脉冲激光的脉冲能量密度限制在10KW/mm2到100MW/mm2范围内，使脉冲激光的照射点通过包含异常部分及其周围的区进行交错移动，使照射点的移动区中的钢材表面蒸发且微粒化，并以微粒形状采集钢材表面上的异常部分及其周围的试料，并且连续分析这样采集的微粒形状试料的成分组成以检测钢材表面产生的异常部分的产生原因。

公开(公告)号：CN1117584A

公开(公告)日：1996-02-28

申请号：CN94115712.1

申请日：1994-08-25

Applicant: 日本钢管株式会社

Inventor： 望月正 ,  石桥耀一 ,  秋吉孝则 ,  岩田嘉人 ,  城代哲史 ,  坂下明子

IPC: G01N21/63

CPC classification number: G01N21/718

Abstract: 一种分析固体样品的方法包括下面步骤：把惰性载气引入该池中；激光光束照射惰性载气中固体样品表面的初旧处理步，该激光光束脉冲半宽度为0.001μsec或更宽，脉冲能量密度为0.001GM/cm2或更高，频率为100Hz或更高；在惰性载气中产生细粒，条件是产生细粒的速率V(μg/sec)和选择比S满足下面方程，选择比是细粒内目的分析元素浓度与固体样品内目的分析元素浓度的比率：S≤0.25logV+1.5，S≥-0.2logV+0.6，0.1≤V≤100把产生的细粒引入检测器。