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公开(公告)号:CN102194628A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201110038194.0
申请日:2011-02-15
Applicant: 日立民用电子株式会社 , 株式会社次世代PDP开发中心 , 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供一种保护膜的实装方法,该保护膜包含氧化钙CaO、氧化锶SrO、氧化钡BaO中的任一种而构成,且含有具有比氧化镁MgO的带隙大的带隙(大于7.9eV)的氧化物。通过将保护膜的时间常数调整为一定值以上,将电压下降时间调整为能够在等离子体显示面板中使用。此时,参照由放电容量C和保护膜电阻R求出的时间常数τ=C×R。
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公开(公告)号:CN103430049A
公开(公告)日:2013-12-04
申请号:CN201280013015.0
申请日:2012-10-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01T1/02 , G01T1/14 , G01T1/2935
Abstract: 本发明的目的在于提供一种放射线检测装置,能够以简单的结构对低剂量的放射线进行测定。该装置在封入了用于放射线检测的气体的密闭空间内,形成一对电极,以及覆盖所述一对电极的由电介质材料构成的绝缘体层,并构成放射线传感器,所述放射线传感器在放射线检测期间,向所述一对电极之间施加预定电压,通过由入射的放射线对所述气体进行电离并生成的离子和/或者电子,将电荷积蓄在所述绝缘体层上,并且在放射线测定时,测定由于施加与所述放射线检测期间向所述一对电极施加的电压反向偏置的电压从而产生的放电的开始电压。
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