公开(公告)号：CN101634630A

公开(公告)日：2010-01-27

申请号：CN200910041924.5

申请日：2009-08-18

Applicant: 暨南大学

Inventor： 钟金钢 ,  张冼华

IPC: G01N21/55

Abstract: 本发明涉及表面等离子体共振生化传感扫描检测技术。本发明针对基于共振角检测的表面等离子体共振生化传感器，提出一种表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法及装置。所谓二维扫描检测是对二维传感芯片进行单光束二维扫描检测。通过精心设计角度扫描的旋转轴位置和二维扫描路径，使得在角度扫描和二维扫描过程中，光束入射到被检测芯片上的入射点不偏离需检测的样品点，克服了基于共振角检测的表面等离子体共振生化传感器在二维扫描检测过程中，光束入射点容易偏离检测样品的难题，这对提高二维扫描检测的传感芯片样品密度，实现高精度高通量检测具有重要的意义，在生化分析中将具有广泛的应用前景。

公开(公告)号：CN101634630B

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN200910041924.5

申请日：2009-08-18

Applicant: 暨南大学

Inventor： 钟金钢 ,  张冼华

IPC: G01N21/55

Abstract: 本发明涉及表面等离子体共振生化传感扫描检测技术。本发明针对基于共振角检测的表面等离子体共振生化传感器，提出一种表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法及装置。所谓二维扫描检测是对二维传感芯片进行单光束二维扫描检测。通过精心设计角度扫描的旋转轴位置和二维扫描路径，使得在角度扫描和二维扫描过程中，光束入射到被检测芯片上的入射点不偏离需检测的样品点，克服了基于共振角检测的表面等离子体共振生化传感器在二维扫描检测过程中，光束入射点容易偏离检测样品的难题，这对提高二维扫描检测的传感芯片样品密度，实现高精度高通量检测具有重要的意义，在生化分析中将具有广泛的应用前景。