公开(公告)号：CN112598577A

公开(公告)日：2021-04-02

申请号：CN202011552248.0

申请日：2020-12-24

Applicant: 暨南大学

Inventor： 项世军 ,  黄明惠

IPC: G06T3/40

Abstract: 本发明公开了基于错位采样的图像插值方法、系统及存储介质，方法包括以下步骤：对原始图像采用错位下采样；将下采样图像中每个像素恢复到原始图像的采样位置；对未知像素采用双线性插值方法或双三次插值方法重构图像；所述双线性插值方法分为两轮进行插值，第一轮，未知像素由三个相邻的已知像素使用双线性插值方法进行预测，第二轮，剩余的未知像素由竖直和水平方向的四个已知像素预测得到；所述双三次插值方法为未知像素由20个相邻像素使用双三次插值方法预测得到；本发明提出了基于错位采样的双线性插值法和双三次插值法，对比传统的基于直接采样的双线性插值与双三次插值，对采样模型进行改变，使得重构图像得到更好的效果与质量。

公开(公告)号：CN112598577B

公开(公告)日：2022-02-11

申请号：CN202011552248.0

申请日：2020-12-24

Applicant: 暨南大学

Inventor： 项世军 ,  黄明惠

IPC: G06T3/40

Abstract: 本发明公开了基于错位采样的图像插值方法、系统及存储介质，方法包括以下步骤：对原始图像采用错位下采样；将下采样图像中每个像素恢复到原始图像的采样位置；对未知像素采用双线性插值方法或双三次插值方法重构图像；所述双线性插值方法分为两轮进行插值，第一轮，未知像素由三个相邻的已知像素使用双线性插值方法进行预测，第二轮，剩余的未知像素由竖直和水平方向的四个已知像素预测得到；所述双三次插值方法为未知像素由20个相邻像素使用双三次插值方法预测得到；本发明提出了基于错位采样的双线性插值法和双三次插值法，对比传统的基于直接采样的双线性插值与双三次插值，对采样模型进行改变，使得重构图像得到更好的效果与质量。