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公开(公告)号：CN101483051B
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN200910001330.1
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。
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公开(公告)号：CN101814306B
公开(公告)日：2012-06-06
申请号：CN201010181154.7
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。
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公开(公告)号：CN101483047B
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN200910001331.6
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于光盘的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对光盘的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性是指由光盘的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述光盘的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方；所述处理机构包括阈值变更机构，该阈值变更机构根据所判别出的所述反射特性和对应于所述反射特性的光的反射大小，来变更用于检测所述光盘的缺陷部分的阈值。
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公开(公告)号：CN100505047C
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：CN200580037136.9
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 信息处理装置(225)是对记录于记录介质(100)的规定信息进行处理的装置，具有特性判别机构(204)和处理机构(226)。特性判别机构(204)判别记录介质(100)的反射特性。处理机构(226)根据判别后的反射特性对记录于记录介质(100)的规定信息进行处理。反射特性是指由记录介质(100)的记录完毕区域反射的光的反射率(下面称作第一反射率)大于由记录介质(100)的未记录区域反射的光的反射率(下面称作第二反射率)的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101061536A
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200580037136.9
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 信息处理装置(225)是对记录于记录介质(100)的规定信息进行处理的装置，具有特性判别机构(204)和处理机构(226)。特性判别机构(204)判别记录介质(100)的反射特性。处理机构(226)根据判别后的反射特性对记录于记录介质(100)的规定信息进行处理。反射特性是指由记录介质(100)的记录完毕区域反射的光的反射率(下面称作第一反射率)大于由记录介质(100)的未记录区域反射的光的反射率(下面称作第二反射率)的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。
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公开(公告)号：CN101814306A
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN201010181154.7
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。
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公开(公告)号：CN101697279A
公开(公告)日：2010-04-21
申请号：CN200910147032.3
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 信息处理装置(225)是对记录于记录介质(100)的规定信息进行处理的装置，具有特性判别机构(204)和处理机构(226)。特性判别机构(204)判别记录介质(100)的反射特性。处理机构(226)根据判别后的反射特性对记录于记录介质(100)的规定信息进行处理。反射特性是指由记录介质(100)的记录完毕区域反射的光的反射率(下面称作第一反射率)大于由记录介质(100)的未记录区域反射的光的反射率(下面称作第二反射率)的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。
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公开(公告)号：CN101483051A
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200910001330.1
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。
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公开(公告)号：CN101483047A
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200910001331.6
申请日：2005-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B19/12
Abstract: 本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性是指由记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方；所述处理机构包括阈值变更机构，该阈值变更机构根据所判别出的所述反射特性和对应于所述反射特性的光的反射大小，来变更用于检测所述记录介质的缺陷部分的阈值。
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