公开(公告)号：CN100538338C

公开(公告)日：2009-09-09

申请号：CN200480031817.X

申请日：2004-12-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 伴知晃 ,  桐野秀树

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01N21/553 ,  Y10S435/808 ,  Y10S436/805 ,  Y10S436/817

Abstract: 提供一种试样的分析方法，可以不受振荡和光学设计的影响，实现高精度的分析。该试样的分析方法中，将包含配体的试样与能够同该配体特异性结合的受体结合，一边向上述受体供给外部振荡，一边通过测量表面等离子共振角的频率特性，来分析由上述受体与上述配体的结合所产生的变化。该试样的分析方法例如在生物学、医学、药学和农学领域是有用的。

公开(公告)号：CN1875262A

公开(公告)日：2006-12-06

申请号：CN200480031817.X

申请日：2004-12-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 伴知晃 ,  桐野秀树

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01N21/553 ,  Y10S435/808 ,  Y10S436/805 ,  Y10S436/817

Abstract: 提供一种试样的分析方法，可以不受振荡和光学设计的影响，实现高精度的分析。该试样的分析方法中，将包含配体的试样与能够同该配体特异性结合的受体结合，一边向上述受体供给外部振荡，一边通过测量表面等离子共振角的频率特性，来分析由上述受体与上述配体的结合所产生的变化。该试样的分析方法例如在生物学、医学、药学和农学领域是有用的。