公开(公告)号：CN1214372C

公开(公告)日：2005-08-10

申请号：CN02800954.1

申请日：2002-03-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 北山真智子 ,  桑原雅弥 ,  田井康裕

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/085

CPC classification number: G11B7/094 ,  G11B7/0901

Abstract: 一种偏移测量方法用于在一个记录和再现设备中基于由一个信息介质反射的光束测量偏移，所述记录和再现设备包括放在运输装置上以使其沿信息介质的一个径向被驱动的光学拾取器。所述方法包括如下步骤：将光束指向第一测量位置，从而基于在第一测量位置反射的光束测量第一偏移量；将运输装置沿径向在第一方向移动第一距离；将光学拾取器沿第二方向驱动等于第一距离的第二距离；以及，将光束指向第二测量位置，从而基于在第二测量位置反射的光束测量第二偏移量。

公开(公告)号：CN1460255A

公开(公告)日：2003-12-03

申请号：CN02800954.1

申请日：2002-03-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 北山真智子 ,  桑原雅弥 ,  田井康裕

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/085

CPC classification number: G11B7/094 ,  G11B7/0901

Abstract: 一种偏移测量方法用于在一个记录和再现设备中基于由一个信息介质反射的光束测量偏移，所述记录和再现设备包括放在运输装置上以使其沿信息介质的一个径向被驱动的光学拾取器。所述方法包括如下步骤：将光束指向第一测量位置，从而基于在第一测量位置反射的光束测量第一偏移量；将运输装置沿径向在第一方向移动第一距离；将光学拾取器沿第二方向驱动等于第一距离的第二距离；以及，将光束指向第二测量位置，从而基于在第二测量位置反射的光束测量第二偏移量。