公开(公告)号：CN1463359A

公开(公告)日：2003-12-24

申请号：CN02801843.5

申请日：2002-03-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 久角隆雄 ,  后藤辉夫 ,  入江正一

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01N21/3563 ,  B29B17/02 ,  B29B2017/0203 ,  B29B2017/0279 ,  G01N21/552 ,  Y02W30/622

Abstract: 在准备塑料材料试验片，利用衰减全反射法测定前述试验片的红外光谱，通过将获得的红外光谱与已知塑料的红外光谱进行比较对照，识别前述塑料材料的种类的方法中，前述试验片具有切断面，使衰减全反射结晶体与前述试验片的切断面相接触，实施前述试验片的红外光谱的测定。

公开(公告)号：CN1267723C

公开(公告)日：2006-08-02

申请号：CN02801843.5

申请日：2002-03-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 久角隆雄 ,  后藤辉夫 ,  入江正一

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01N21/3563 ,  B29B17/02 ,  B29B2017/0203 ,  B29B2017/0279 ,  G01N21/552 ,  Y02W30/622

Abstract: 在本发明的塑料识别方法中，准备塑料材料的试验片，用衰减全反射法测定试验片的红外光谱，将得到的红外光谱与已知塑料的红外光谱进行比较，由此识别塑料材料种类，其特征是，试验片具有切断面，通过使衰减全反射用结晶体与切断面接触来实施试验片红外光谱测定，结晶体表面的至少一部分是球面，其被配置成与切断面点接触。本发明的塑料识别装置包括：利用衰减全反射法测定塑料材料的试验片的红外光谱的测定部，它具有衰减全反射晶体和红外质谱仪；将试验片保持在与结晶体接触的状态的保持部；将试验片的红外光谱与已知塑料的红外光谱进行比较的识别部，保持部将具有切断面的试验片保持在切断面与结晶体相接触的状态，结晶体表面的至少一部分是球面，其被配置成与切断面点接触。