-
公开(公告)号：CN102227952A
公开(公告)日：2011-10-26
申请号：CN201080003405.0
申请日：2010-04-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L51/56 , H01L27/322 , H01L27/3244 , H01L51/5203 , H01L2251/5315 , H01L2251/568
Abstract: 公开了有机电致发光显示器及其制造方法，包括：准备具有基板和呈矩阵状配置在所述基板上的有机EL元件的有机EL面板的步骤，所述有机EL元件分别具有配置在所述基板上的像素电极、配置在所述像素电极上的有机层、配置在所述有机层上的透明对向电极、配置在所述透明对向电极上的密封层及配置在所述密封层上的滤色片；检测所述有机EL元件内的所述有机层上存在的缺陷部的步骤；以及对所述透明对向电极中的所述缺陷部上的区域照射激光，以破坏所述缺陷部上的区域的透明对向电极的步骤，所述激光相对于所述有机EL面板的显示面的法线倾斜地进行照射。
-
公开(公告)号：CN102227952B
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201080003405.0
申请日：2010-04-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L51/56 , H01L27/322 , H01L27/3244 , H01L51/5203 , H01L2251/5315 , H01L2251/568
Abstract: 公开了有机电致发光显示器及其制造方法，包括：准备具有基板和呈矩阵状配置在所述基板上的有机EL元件的有机EL面板的步骤，所述有机EL元件分别具有配置在所述基板上的像素电极、配置在所述像素电极上的有机层、配置在所述有机层上的透明对向电极、配置在所述透明对向电极上的密封层及配置在所述密封层上的滤色片；检测所述有机EL元件内的所述有机层上存在的缺陷部的步骤；以及对所述透明对向电极中的所述缺陷部上的区域照射激光，以破坏所述缺陷部上的区域的透明对向电极的步骤，所述激光相对于所述有机EL面板的显示面的法线倾斜地进行照射。
-
公开(公告)号：CN102790011A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201210152424.0
申请日：2012-05-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 宫泽和利
IPC: H01L21/77
CPC classification number: H01L51/56 , H01L27/3244 , H01L2251/5392 , H01L2251/568
Abstract: 本发明提供一种有机EL显示器的修复方法。所述有机EL显示器的修复方法在有机EL显示器的制造中，在像素电极中混入异物或在像素电极的表面附着异物并因该异物产生缺陷的情况下，仅简单地局部修复缺陷部，且在修复后不会产生对修复部周围的损伤。在有机EL显示器的制造中，通过检测混入到像素电极的异物，针对混入到像素电极的异物，向下方压下前端为半球状的微细的针，使异物和像素电极的一部分一起塑性变形，将异物嵌入像素电极内，由此修复异物导致的缺陷。通过将异物压入像素电极来防止因异物引起的短路缺陷。
-
公开(公告)号：CN102738415A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210101464.2
申请日：2012-04-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 宫泽和利
IPC: H01L51/56
CPC classification number: H01L51/56 , H01L27/3241 , H01L2251/568
Abstract: 一种有机电致发光显示器的制造方法，对于混入有机EL元件的有机层中的异物照射激光而使异物周围绝缘，由此修复因异物造成的有机EL元件的缺陷部。在对有异物的像素照射激光前，对有异物的像素周围的像素，移动激光的焦点的同时照射激光。根据激光的加工痕和该像素的发光状态，规定激光的焦点。以该规定了的焦点对异物照射激光，由此能够不损伤异物周围以外的区域，使异物部绝缘而修复因异物造成的缺陷。
-
公开(公告)号：CN102210193A
公开(公告)日：2011-10-05
申请号：CN201080003173.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L27/3281 , H01L27/322 , H01L51/5218 , H01L51/5221 , H01L51/5234 , H01L51/56 , H01L2251/5315 , H01L2251/568 , H05B33/10 , H05B33/26 , H05B33/28 , Y10S438/94
Abstract: 公开了有机EL显示器的制造方法，包括以下步骤：准备具有基板和呈矩阵状地配置在所述基板上的有机EL元件的有机EL面板，所述有机EL元件分别具有配置在所述基板上的像素电极、配置在所述像素电极上的有机层、配置在所述有机层上的透明对向电极、配置在所述透明对向电极上的保护层及配置在所述保护层上的滤色片；检测存在于所述有机EL元件内的所述有机层上的缺陷部；对所述透明对向电极中的所述缺陷部上的区域，透过所述滤色片来照射激光，破坏所述区域的透明对向电极；以及去除所述滤色片中的所述缺陷部上的区域。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102308670B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201080006807.6
申请日：2010-02-01
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L27/3246 , H01L27/3283 , H01L51/0005 , H01L2251/568
Abstract: 本发明公开了有机电致发光显示器的制造方法，其是制造有机EL显示器的方法，所述有机EL显示器具有基板以及矩阵状地配置在所述基板上的多个有机EL元件，并且所述有机EL元件包含配置在所述基板上的像素电极、配置在所述像素电极上的有机层以及配置在所述有机层上的对向电极，所述制造方法包括如下步骤：在基板上形成用于规定有机层的隔堤；对由所述隔堤规定的区域涂覆含有有机材料的溶液而形成有机层；检测所述有机层的成形缺陷部；去除所述成形缺陷部；在去除了所述成形缺陷部的区域的周围形成凹部或凸部；对去除了所述成形缺陷部的区域再次涂覆含有有机材料的溶液。
-
公开(公告)号：CN102790011B
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201210152424.0
申请日：2012-05-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 宫泽和利
IPC: H01L21/77
CPC classification number: H01L51/56 , H01L27/3244 , H01L2251/5392 , H01L2251/568
Abstract: 本发明提供一种有机EL显示器的修复方法。所述有机EL显示器的修复方法在有机EL显示器的制造中，在像素电极中混入异物或在像素电极的表面附着异物并因该异物产生缺陷的情况下，仅简单地局部修复缺陷部，且在修复后不会产生对修复部周围的损伤。在有机EL显示器的制造中，通过检测混入到像素电极的异物，针对混入到像素电极的异物，向下方压下前端为半球状的微细的针，使异物和像素电极的一部分一起塑性变形，将异物嵌入像素电极内，由此修复异物导致的缺陷。通过将异物压入像素电极来防止因异物引起的短路缺陷。
-
公开(公告)号：CN102308670A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201080006807.6
申请日：2010-02-01
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L27/3246 , H01L27/3283 , H01L51/0005 , H01L2251/568
Abstract: 本发明公开了有机电致发光显示器的制造方法，其是制造有机EL显示器的方法，所述有机EL显示器具有基板以及矩阵状地配置在所述基板上的多个有机EL元件，并且所述有机EL元件包含配置在所述基板上的像素电极、配置在所述像素电极上的有机层以及配置在所述有机层上的对向电极，所述制造方法包括如下步骤：在基板上形成用于规定有机层的隔堤；对由所述隔堤规定的区域涂覆含有有机材料的溶液而形成有机层；检测所述有机层的成形缺陷部；去除所述成形缺陷部；在去除了所述成形缺陷部的区域的周围形成凹部或凸部；对去除了所述成形缺陷部的区域再次涂覆含有有机材料的溶液。
-
公开(公告)号：CN102210193B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201080003173.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L27/3281 , H01L27/322 , H01L51/5218 , H01L51/5221 , H01L51/5234 , H01L51/56 , H01L2251/5315 , H01L2251/568 , H05B33/10 , H05B33/26 , H05B33/28 , Y10S438/94
Abstract: 本发明公开了有机EL显示器的制造方法，包括以下步骤：准备具有基板和呈矩阵状地配置在所述基板上的有机EL元件的有机EL面板，所述有机EL元件分别具有配置在所述基板上的像素电极、配置在所述像素电极上的有机层、配置在所述有机层上的透明对向电极、配置在所述透明对向电极上的保护层及配置在所述保护层上的滤色片；检测存在于所述有机EL元件内的所述有机层上的缺陷部；对所述透明对向电极中的所述缺陷部上的区域，透过所述滤色片来照射激光，破坏所述区域的透明对向电极；以及去除所述滤色片中的所述缺陷部上的区域。
-
公开(公告)号：CN103190201A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201280003523.0
申请日：2012-01-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 宫泽和利
CPC classification number: H01L27/3244 , H01L2251/568
Abstract: 本发明能够以迅速简便的方法防止在像素电极的欠缺部中的局部亮度的降低。本发明提供一种有机EL面板的制造方法，该有机EL面板包括薄膜晶体管面板和有机EL元件，该有机EL元件呈矩阵状配置在所述薄膜晶体管面板的表面上，并且具有像素电极、配置在所述像素电极上的有机功能层以及配置在所述有机功能层上的对置电极。该方法包括如下工序：准备所述薄膜晶体管面板的工序、在所述薄膜晶体管面板的表面上形成所述像素电极的图案的工序、检测所述薄膜晶体管面板的表面所露出的像素电极的欠缺部的工序；将激光照射到从所述像素电极的欠缺部露出的所述薄膜晶体管面板的表面，从而使所述薄膜晶体管面板的表面粗糙化的工序；在所述像素电极上和从所述像素电极的欠缺部露出的所述薄膜晶体管面板的表面上形成有机功能层的工序；以及在所述有机功能层上形成对置电极的工序。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
10
records
(took 0.027 seconds)
