热载流子劣化估计方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1128419C

    公开(公告)日:2003-11-19

    申请号:CN97125368.4

    申请日:1997-12-10

    CPC classification number: G06F11/008

    Abstract: 本发明提供一种切合其实际工作地估计由热载流子的影响造成的LSI的可靠性劣化的热载流子劣化估计方法。在延迟计算步骤中,根据电路信息和延迟库计算作为对象的LSI的各单元的延迟、输入波形斜率、及输出负载电容。在延迟劣化库生成步骤中,根据由热载流子的影响造成的单元的延迟变化的延迟劣化参数及延迟库并利用各单元的估计工作次数、输入波形斜率及输出负载电容,生成延迟参数的延迟劣化库。上述步骤反复进行规定反复次数。

    半导体集成电路
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101128921A

    公开(公告)日:2008-02-20

    申请号:CN200680006348.5

    申请日:2006-03-03

    Inventor: 川上善之

    Abstract: 在LSI布图设计图案的平整化处理中,设置虚拟图案的情况下,设置了信号布线图案(2)的布线层内,设置着相对于信号布线图案(2)倾斜约为45度倾斜角的多个虚拟图案(1)。这些虚拟图案(1),相对于上层或者是下层相邻的其他布线层中形成的信号布线(3)成约为45度倾斜角交叉。上述信号布线图案(3)的布线层中,设置了相对于这个信号布线图案(3)成约45度倾斜角的多个虚拟图案(13)。上述邻接的两个布线层的虚拟图案(1、13)成约90度的角度交叉。因此,在降低布线电容变动的同时,也尽可能使布线电容变动量均一化。

    半导体集成电路
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100481347C

    公开(公告)日:2009-04-22

    申请号:CN200680006348.5

    申请日:2006-03-03

    Inventor: 川上善之

    Abstract: 在LSI布图设计图案的平整化处理中,设置虚拟图案的情况下,设置了信号布线图案(2)的布线层内,设置着相对于信号布线图案(2)倾斜约为45度倾斜角的多个虚拟图案(1)。这些虚拟图案(1),相对于上层或者是下层相邻的其他布线层中形成的信号布线(3)成约为45度倾斜角交叉。上述信号布线图案(3)的布线层中,设置了相对于这个信号布线图案(3)成约45度倾斜角的多个虚拟图案(13)。上述邻接的两个布线层的虚拟图案(1、13)成约90度的角度交叉。因此,在降低布线电容变动的同时,也尽可能使布线电容变动量均一化。

    热载流子劣化估计方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1184978A

    公开(公告)日:1998-06-17

    申请号:CN97125368.4

    申请日:1997-12-10

    CPC classification number: G06F11/008

    Abstract: 本发明提供一种切合其实际工作地估计由热载流子的影响造成的LSI的可靠性劣化的热载流子劣化估计方法。在延迟计算步骤中,根据电路信息和延迟库计算作为对象的LSI的各单元的延迟、输入波形斜率、及输出负载电容。在延迟劣化库生成步骤中,根据由热载流子的影响造成的单元的延迟变化的延迟劣化参数及延迟库并利用各单元的估计工作次数、输入波形斜率及输出负载电容,生成延迟参数的延迟劣化库。上述步骤反复进行规定反复次数。

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