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公开(公告)号：CN1404034A
公开(公告)日：2003-03-19
申请号：CN01125279.0
申请日：1997-01-23
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B5/00
Abstract: 本发明涉及磁记录磁道检查装置用的基准规。这种基准规是对磁录放装置所记录且进行过可视化处理的磁带上磁记录磁道的磁道图案，用摄像装置进行摄像、检查的磁记录磁道检查装置用的基准规。在其表面具有作为该基准规的坐标系的基准的线图，和以等间距描画成相对于所述线图的基准方向具有规定的角度的栅图。所述线图和所述栅图具有的厚度，使得在磁记录磁道检查装置上设置时它们的表面与在磁记录磁道检查装置上设置磁带时该磁带上表面的高度位置实质上相等。
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公开(公告)号：CN101103372A
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200580046945.6
申请日：2005-12-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06T1/00
CPC classification number: H04N5/2256
Abstract: 提供一种能够射出用于照明物体的照明光并具有高光学性能的薄型图像传感器。图像传感器(10)包括：包括在平面上以阵列配置的透镜元件(11a)的透镜阵列；用于将光学图像转换为电信号的成像元件(13)，该成像元件包含成像区域，每个成像区域包含多个光电转换部并能够接收光学图像；以及用于射出用于对形成光学图像的物体进行照明的照明光的光源部(14)。
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公开(公告)号：CN1219402C
公开(公告)日：2005-09-14
申请号：CN00801197.4
申请日：2000-06-19
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 石黑浩
Abstract: 从全方位图像当中切出任意视点图像进行重放时，尽可能减小其他装置存储全方位图像时的信息传输量。通过双向通信单元(10)仅将位置信息从全方位图像位置存储单元(3)送到终端装置的摄像位置显示单元(4)上显示，利用视点位置指令单元(5)指定必要的视点位置，供给中心的图像变换单元(6)根据视点位置指令单元(5)指令的视点位置，从全方位图像位置存储单元(3)当中提取需要的图像通过双向通信单元(10)送至终端装置进行图像显示。
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公开(公告)号：CN1315098C
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN02814923.8
申请日：2002-05-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H04N5/23238 , H04N5/2259 , H04N5/2628
Abstract: 在使用具有旋转对称的凸面形状的反射镜对大致有±90°大小的广角图像进行摄像，实施运算处理，以得到展开图像的广角图像生成装置中，反射面的旋转中心轴在垂直于0°方向的面内偏离铅直方向倾斜的情况下，得到的图像，其内容倾斜了反射面的旋转中心轴的倾斜程度，存在着使观察者有不协调感觉的问题。本发明在用反射镜(1)对大致有±90°大小的广角图像进行摄像的摄像装置内设置角度传感器(12)，测定垂直于0°方向的面内的倾斜。用该值在运算处理装置11进行展开处理，同时进行展开图像的旋转处理，使展开图像内的水平与输出监视器(13)的水平一致。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1535449A
公开(公告)日：2004-10-06
申请号：CN02814923.8
申请日：2002-05-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H04N5/23238 , H04N5/2259 , H04N5/2628
Abstract: 在使用具有旋转对称的凸面形状的反射镜对大致有±90°大小的广角图像进行摄像，实施运算处理，以得到展开图像的广角图像生成装置中，反射面的旋转中心轴在垂直于0°方向的面内偏离铅直方向倾斜的情况下，得到的图像，其内容倾斜了反射面的旋转中心轴的倾斜程度，存在着使观察者有不协调感觉的问题。本发明在用反射镜(1)对大致有±90°大小的广角图像进行摄像的摄像装置内设置角度传感器(12)，测定垂直于0°方向的面内的倾斜。用该值在运算处理装置11进行展开处理，同时进行展开图像的旋转处理，使展开图像内的水平与输出监视器(13)的水平一致。
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公开(公告)号：CN100401376C
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：CN01125279.0
申请日：1997-01-23
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B5/00
Abstract: 本发明涉及磁记录磁道检查装置用的基准规。这种基准规是对磁录放装置所记录且进行过可视化处理的磁带上磁记录磁道的磁道图案，用摄像装置进行摄像、检查的磁记录磁道检查装置用的基准规。在其表面具有作为该基准规的坐标系的基准的线图，和以等间距描画成相对于所述线图的基准方向具有规定的角度的栅图。所述线图和所述栅图具有的厚度，使得在磁记录磁道检查装置上设置时它们的表面与在磁记录磁道检查装置上设置磁带时该磁带上表面的高度位置实质上相等。
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公开(公告)号：CN1090796C
公开(公告)日：2002-09-11
申请号：CN97102342.5
申请日：1997-01-23
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供精密测定一个像素的平均实际空间长度的方法，还提供测定或调整摄像范围，测定图像畸变及按其结果修正图像畸变的光学系统校正方法，在栅像检查区域的任意区域，计算摄像装置各像素列的栅线数平均值，乘以栅间距得出规定方向上的所述任意区域的实际空间长度。将其除以该方向上的像素数目，得出栅像中一个像素的平均实际空间长度。以此可以计算、调整摄像范围，计算所得图像的畸变分布和用其修正图像，能校正光学系统，进行精密测定。
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公开(公告)号：CN101147392B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN200680009121.6
申请日：2006-03-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H04N5/225
CPC classification number: H04N5/2254 , G02B3/0031 , G02B3/0043 , G02B3/005 , G02B3/0056 , G02B3/0075 , G02B27/1066 , G02B27/123 , H01L27/14627
Abstract: 本发明的目的是提供一种薄型成像装置及其中使用的透镜阵列，该成像装置能获得高图像分辨率并且即使当拍摄距离变化时分辨率也不一致变化。本发明涉及一种成像装置，该成像装置包括：通过平行排列在至少一个表面上具有光焦度的多个透镜元件构成的透镜阵列(130)；和图像传感器(110)，其中由具有各个透镜元件的光学系统形成的光学图像由各个相互不同的成像区域接收，每个成像区域具有多个光电转换部，从而使光学图像转换成电图像信号，其中每个透镜元件和对应于该透镜元件的成像区域构成一个成像单元，同时成像单元具有不同的成像区域面积。本发明也涉及所述成像装置中使用的透镜阵列。
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