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公开(公告)号:CN1106598C
公开(公告)日:2003-04-23
申请号:CN98122993.X
申请日:1998-12-01
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 梶原忠之
CPC classification number: G03G15/5058 , G03G15/0173 , G03G15/1605 , G03G15/5041 , G03G2215/00037 , G03G2215/00059 , G03G2215/00063 , G03G2215/0177 , G03G2215/1657 , H04N1/4078
Abstract: 本发明为一种成象装置,该装置根据在感光体或中间转印体上的图象密度进行γ校正。本发明的成象装置包括:一个测试图形发生装置,一个第一密度检测装置,用来检测在感光体或者在中间转印体上的一个图象密度;一个第二密度检测装置,用来检测在感光体或者在中间转印体上的一个图象密度;一个校正器装置,用来校正图象数据;一个控制装置,用来计算校正数据,以供根据来自第一和第二密度检测装置输出的图象密度在校正器装置中设定校正数据之用。
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公开(公告)号:CN100524082C
公开(公告)日:2009-08-05
申请号:CN03809282.4
申请日:2003-03-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G03G15/2017 , G03G15/2039 , G03G15/2053 , G03G2215/0119 , G03G2215/2016 , G03G2215/2032 , H05B6/145
Abstract: 短路环(230)被设在支承框架(190)的外部。在短路环(230)内,在消除自励磁线圈(220)被输入电流而形成的部分磁通的方向上产生了涡电流,其中该部分磁通被泄漏到外部。当产生涡电流时,根据弗莱明定律,在消除由漏磁通产生的磁场的方向上形成了一个磁场。因此阻止了由漏磁通产生的不必要的辐射,且因此抑制了在其他部件或设备内产生的噪音。
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公开(公告)号:CN1223390A
公开(公告)日:1999-07-21
申请号:CN98122993.X
申请日:1998-12-01
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 梶原忠之
IPC: G03G15/08
CPC classification number: G03G15/5058 , G03G15/0173 , G03G15/1605 , G03G15/5041 , G03G2215/00037 , G03G2215/00059 , G03G2215/00063 , G03G2215/0177 , G03G2215/1657 , H04N1/4078
Abstract: 本发明为一种成象装置,该装置根据在感光体或中间转印体上的图象密度进行γ校正。本发明的成象装置包括:一个测试图形发生装置,一个第一密度检测装置,用来检测在感光体或者在中间转印体上的一个图象密度;一个第二密度检测装置,用来检测在感光体或者在中间转印体上的一个图象密度;一个校正器装置,用来校正图象数据;一个控制装置,用来计算校正数据,以供根据来自第一和第二密度检测装置输出的图象密度在校正器装置中设定校正数据之用。
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公开(公告)号:CN1650238A
公开(公告)日:2005-08-03
申请号:CN03809282.4
申请日:2003-03-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G03G15/2017 , G03G15/2039 , G03G15/2053 , G03G2215/0119 , G03G2215/2016 , G03G2215/2032 , H05B6/145
Abstract: 短路环(230)被设在支承框架(190)的外部。在短路环(230)内,在消除自励磁线圈(220)被输入电流而形成的部分磁通的方向上产生了涡电流,其中该部分磁通被泄漏到外部。当产生涡电流时,根据弗莱明定律,在消除由漏磁通产生的磁场的方向上形成了一个磁场。因此阻止了由漏磁通产生的不必要的辐射,且因此抑制了在其他部件或设备内产生的噪音。
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