公开(公告)号：CN101490752B

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：CN200780026050.5

申请日：2007-07-09

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森田胜己

IPC: G11B7/09

CPC classification number: G11B7/0908 ,  G11B7/1267

Abstract: 一种光盘用信号处理装置，包括：当进行了使焦点位置按多个种类进行变化的测试记录时，根据光盘中的进行了测试记录的区域的记录品质来求出最佳记录焦点位置的焦点位置确定部。焦点位置确定部包括：对每个焦点位置测量光盘中的进行了测试记录的区域的记录品质的记录状态测量部；以及利用通过记录状态测量部得到的每个焦点位置的记录品质，按规定的判断基准来判断测试记录时的激光功率是否适合用于求出最佳记录焦点位置的判断部。当被判断部判断为测试记录时的激光功率不适合用于求出最佳记录焦点位置时，光盘用信号处理装置控制光学拾波器以变更激光功率，再次进行测试记录。

公开(公告)号：CN101490752A

公开(公告)日：2009-07-22

申请号：CN200780026050.5

申请日：2007-07-09

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森田胜己

IPC: G11B7/09

CPC classification number: G11B7/0908 ,  G11B7/1267

Abstract: 一种光盘用信号处理装置，包括：当进行了使焦点位置按多个种类进行变化的测试记录时，根据光盘中的进行了测试记录的区域的记录品质来求出最佳记录焦点位置的焦点位置确定部。焦点位置确定部包括：对每个焦点位置测量光盘中的进行了测试记录的区域的记录品质的记录状态测量部；以及利用通过记录状态测量部得到的每个焦点位置的记录品质，按规定的判断基准来判断测试记录时的激光功率是否适合用于求出最佳记录焦点位置的判断部。当被判断部判断为测试记录时的激光功率不适合用于求出最佳记录焦点位置时，光盘用信号处理装置控制光学拾波器以变更激光功率，再次进行测试记录。

公开(公告)号：CN1925050A

公开(公告)日：2007-03-07

申请号：CN200610112364.4

申请日：2006-08-31

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森田胜己 ,  井村正春 ,  小仓洋一 ,  甲斐勤 ,  小西信一 ,  高尾頼和

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/18 ,  G11B7/00

CPC classification number: H04N17/06 ,  G11B7/005 ,  G11B19/04 ,  G11B20/1816

Abstract: 本发明涉及一种用于光盘的信号处理装置，该信号处理装置与现有技术相比即使在重放的RF信号削弱情况下能够在较高的速度下更加精确地检测信号质量。短记录标志检测单元(115)检测从光盘(101)中读取的射频信号中的短记录标志，短记录标志计数单元(116)计数检测到的短记录标志的数量作为第一短记录标志数量，错误数量计数单元(110)对射频信号中的错误进行计数，错误数量转换单元(111)将错误的数量转换成与错误的数量等效的第二短记录标志数量，信号质量判断单元(112)基于第一短记录标志数量和第二短记录标志数量的总和判断记录的质量。