公开(公告)号：CN1249689C

公开(公告)日：2006-04-05

申请号：CN02148071.0

申请日：2002-10-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 阿部雅祥 ,  和泉光彦 ,  森田胜巳

IPC: G11B7/085 ,  G11B27/30

CPC classification number: G11B7/00375 ,  G11B7/0948 ,  G11B20/10009

Abstract: 本发明涉及信息丢失检出电路提供无论是在再生中还是在记录时能够安定地检出信息丢失的信息丢失检出电路。本发明的信息丢失检出电路，包括：用第1时间常数检测照射在光盘上的光束的反射信号的包络线的高速包络线检波电路(147)；用上述第1时间常数以上的第2时间常数检测上述反射信号包络线的低速包络线检波电路(146)；形成表示由上述高速包络线检出电路(147)及低速包络线检波电路(146)各自检出的包络线的差所形成的差信号的差动电路(150)；由差动电路(150)用所定的二值化标准二值化被上述差动手段所形成的差信号的比较(149)。并且，高速包络线检波电路(147)，在记录中的第1时间常数比再现中的大。

公开(公告)号：CN1414542A

公开(公告)日：2003-04-30

申请号：CN02148071.0

申请日：2002-10-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 阿部雅祥 ,  和泉光彦 ,  森田胜巳

IPC: G11B7/085 ,  G11B27/30

CPC classification number: G11B7/00375 ,  G11B7/0948 ,  G11B20/10009

Abstract: 本发明涉及信息丢失检出电路及安装有该电路的光盘装置。提供无论是在再生中还是在记录时能够安定地检出信息丢失的信息丢失检出电路。本发明的信息丢失检出电路，包括：用第1时间常数检测照射在光盘上的光束的反射信号的包络线的高速包络线检波电路147；用上述第1时间常数以上的第2时间常数检测上述反射信号包络线的低速包络线检波电路146；形成表示由上述高速包络线检出电路147及低速包络线检波电路146各自检出的包络线的差所形成的差信号的差动电路150；由差动电路150用所定的二值化标准二值化被上述差动手段所形成的差信号的比测149。并且，高速包络线检波电路147，在记录中的第1时间常数比再现中的大。