公开(公告)号：CN101083142A

公开(公告)日：2007-12-05

申请号：CN200710105461.5

申请日：2007-05-31

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 黑住知弘 ,  县泰宏 ,  市川修 ,  永井慎太郎

IPC: G11C29/44 ,  G11C29/00

CPC classification number: G11C29/26 ,  G11C29/4401 ,  G11C29/72 ,  G11C29/789 ,  G11C29/806

Abstract: 本发明提供一种半导体器件，包括能够自我修复芯片内的故障单元的系统，抑制电路面积的增加，缩短用于救济冗余存储器的故障的救济信息传送时间以及电熔丝的切断时间。冗余存储器(11、12)能够独立动作。测试电路(30)进行冗余存储器(11、12)的检查，当判断为存在故障单元时，输出用于救济该故障单元的救济信息(S3)。救济处理部(21)具有为冗余存储器(11、12)所共有的、且分别具有能够存储救济信息(S3)的救济信息存储部(L11～L1x)的多个故障救济部(211～21x)，进行冗余存储器(11、12)的救济处理。