公开(公告)号：CN1942964A

公开(公告)日：2007-04-04

申请号：CN200680000033.X

申请日：2006-01-13

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 甲斐田优 ,  伊藤基志

IPC: G11B20/12 ,  G11B7/007 ,  G11B7/004 ,  G11B20/10

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2220/20

Abstract: 光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。

公开(公告)号：CN101266825A

公开(公告)日：2008-09-17

申请号：CN200810099110.2

申请日：2006-01-13

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 甲斐田优 ,  伊藤基志

IPC: G11B20/18

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2220/20

Abstract: 光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。

公开(公告)号：CN101266825B

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN200810099110.2

申请日：2006-01-13

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 甲斐田优 ,  伊藤基志

IPC: G11B20/18

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2220/20

Abstract: 光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。

公开(公告)号：CN1942964B

公开(公告)日：2010-10-13

申请号：CN200680000033.X

申请日：2006-01-13

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 甲斐田优 ,  伊藤基志

IPC: G11B20/12 ,  G11B7/007 ,  G11B7/004 ,  G11B20/10

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2220/20

Abstract: 光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。