公开(公告)号：CN101405610A

公开(公告)日：2009-04-08

申请号：CN200780009679.9

申请日：2007-03-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 松川和生 ,  藤田光俊

IPC: G01R31/3167 ,  H03M1/10

CPC classification number: G01R31/31932 ,  G01R31/3167

Abstract: 提供一种半导体装置、半导体试验测试装置和半导体装置的试验测试方法，解决了在具备多个DAC的半导体集成电路的合格品判别的测试中，存在测试时间因DAC的数目的增加或高解像度化而变长这样的问题。在测试两个DAC、即DAC1和DAC2的情况下，控制部(170)通过交替地增加DAC1和DAC2的数字输入值，被输入DAC1和DAC2的模拟输出值的比较部1的输出在“0”和“1”之间重复倒相。因在判断部(180)中判断上述比较部1的输出模式是否与期待值一致，所以可进行DAC的合格品判别。

公开(公告)号：CN1704909A

公开(公告)日：2005-12-07

申请号：CN200510075428.3

申请日：2005-06-01

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 藤田光俊 ,  堤兼二

IPC: G06F12/00 ,  G06F1/26

CPC classification number: G06F8/65

Abstract: 一种微型计算机，包括：CPU；多个易失性存储器；系统总线；程序转移总线；程序转移部分；地址转换部分；以及电压检测部分。易失性存储器包括根据由CPU程序执行状态可切换用作转移存储器和执行存储器多个存储器。在由电压检测部分检测的电压低于第一电压的情况下，程序转移部分把在非易失性存储器内存储的一部分程序转移到转移存储器，并且地址转换部分把在从CPU中输出的非易失性存储器内的地址转换成在执行存储器内的地址。

公开(公告)号：CN100369014C

公开(公告)日：2008-02-13

申请号：CN200510075428.3

申请日：2005-06-01

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 藤田光俊 ,  堤兼二

IPC: G06F12/00 ,  G06F1/26

CPC classification number: G06F8/65

Abstract: 一种微型计算机，包括：CPU；多个易失性存储器；系统总线；程序转移总线；程序转移部分；地址转换部分；以及电压检测部分。易失性存储器包括根据由CPU程序执行状态可切换用作转移存储器和执行存储器多个存储器。在由电压检测部分检测的电压低于第一电压的情况下，程序转移部分把在非易失性存储器内存储的一部分程序转移到转移存储器，并且地址转换部分把在从CPU中输出的非易失性存储器内的地址转换成在执行存储器内的地址。

公开(公告)号：CN1540745A

公开(公告)日：2004-10-27

申请号：CN200410035168.2

申请日：2004-04-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 藤田光俊 ,  近藤秀二

IPC: H01L21/82 ,  G06F17/50

CPC classification number: G06F17/505 ,  G06F17/5068

Abstract: 在布局结果中检测布线上的分支点(S101)。然后计算在分支点之后的布线上插入虚拟缓冲器的路由的延迟量(S102)与没有插入虚拟缓冲器的路由的延迟量(S103)。根据延迟量，确定要在其处插入负载分配缓冲器的插入点(S104)。如果负载分配缓冲器要插入在该插入点，计算在该插入点之前的驱动单元的驱动能力以使满足时序限制(S105)。然后在确定负载分配缓冲器可插入在该确定的插入点(S106)之后，在布局结果上执行放置负载分配缓冲器、改变驱动单元的驱动能力和改变布线信息的过程(S107)。