公开(公告)号：CN101431337A

公开(公告)日：2009-05-13

申请号：CN200710186026.X

申请日：2007-11-09

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 陈超 ,  江浩 ,  徐明 ,  栗谦一 ,  西尾昭彦

IPC: H03M13/11

CPC classification number: H03M13/116 ,  H03M13/1188 ,  H03M13/6393

Abstract: 本发明揭示一种降低双对角线准循环低密度奇偶校验码的编码时延的方法，包括步骤：基于设置的扩展码码率1/k，将m行n列的基矩阵的双对角线沿双对角线方向延伸，以构成双对角线结构的扩展矩阵，其中k＝3，4，5…k0，1/k0为扩展码的最小码率；将第i*m+l行校验部分的第一个非零元素沿着该行向左移动到第(n－m+l)列，其中i＝1，2，…，k0－1；利用第一个校验关系作为启动因子计算第n－m+l列的校验比特；利用左移动到第(n－m+l)列的校验关系，通过递归编码的方式，并行地计算多组校验比特。