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公开(公告)号：CN102113055B
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201080002221.2
申请日：2010-04-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/2541 , G11B2220/2562
Abstract: 本发明提供一种信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法及信息再现装置。现有技术问题是：若想要利用缺陷条目管理备用区域内存在的缺陷簇来进行管理，则伴随多层化，备用区域尺寸越增加，DFL尺寸也会自动变大。本发明的信息记录介质，具有表示与各个备用区域分别对应的下一个可使用位置的指针信息，并且对备用区域的使用方向加以限制。而且，在DFL中具备表示备用区域内的缺陷簇的缺陷条目。由此，即使备用区域(15)的尺寸变大，DFL(21)的尺寸也能够抑制为小型化。此外，能够在进行物理再格式化之后，还对备用区域(15)中的缺陷簇确认是否为缺陷，从而进行控制，以使不对此处分配(不使用)为替换簇。
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公开(公告)号：CN102473435A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080033487.3
申请日：2010-09-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1252 , G11B20/1883 , G11B20/1889 , G11B2020/1278 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/237 , G11B2220/2541 , G11B2220/2562
Abstract: 在每一层记录层的记录容量增加、且由备用区的大小而使SBM的大小发生变化的信息记录媒体中，DDS和SBM处于相互依存关系，难以取得盘管理信息。在本发明的信息记录媒体中，将用户数据区进行最大分配时，存储空间位图所需要的区块数为Ni(Ni≥2)，进行最小分配时则比Ni小。在这样的信息记录媒体中，若存储某一记录层的空间位图所需要的区块数为Mi(1≤Mi≤Ni)，若Mi为2以上，则空间位图被分成分别与DDS一起纳入1个区块的大小的第一～第Mi空间位图，且被记录在盘管理区的Mi个区块中。
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公开(公告)号：CN102077281A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200980125094.2
申请日：2009-10-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/007 , G11B7/004 , G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0045 , G11B7/1267 , G11B7/24038 , G11B7/24082
Abstract: 本发明提供一种信息记录介质、记录装置和再现装置，信息记录介质具备3层以上的多个信息记录层。多个信息记录层分别具备用于调整记录条件的测试记录区。多个信息记录层之中的1个信息记录层具备预先记录了用于管理信息记录介质的管理数据的再现专用管理数据区，1个信息记录层具备能重新写入用于管理信息记录介质的管理数据区。多个信息记录层之中的其他2个以上的记录层分别具备半径位置与再现专用管理数据区的一部分重叠的测试记录区。在具备能记录的管理数据区的1个记录层中，在测试记录区的内周侧和外周侧设置2处能记录的管理数据区。
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公开(公告)号：CN101271716A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200810081770.8
申请日：2003-02-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/18 , G11B20/1833 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2562
Abstract: 本发明涉及信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法。这种信息记录介质包括：用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的标题；分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录；和定位符。标题、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置。所述标题包括：用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；第一更新次数信息；和表示缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括：用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识；和第二更新次数信息。
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公开(公告)号：CN1534448A
公开(公告)日：2004-10-06
申请号：CN200310114723.6
申请日：2003-12-03
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G06F3/0658 , G06F3/0607 , G06F3/0659 , G06F3/0677
Abstract: 一种接口电路包括：接口通信单元，用于与上游设备进行通信；系统接口通信单元，用于与系统控制器进行通信；和接口控制单元，用于控制上述这些单元。所述接口控制单元包括：用于执行第一复位处理的单元；用于请求系统接口通信单元以请求系统控制器允许执行不同于第一复位处理的第二复位处理的单元；用于请求系统接口通信单元接收来自系统控制器的允许执行第二复位处理的报告的单元；用于根据允许执行第二复位处理的报告执行第二复位处理的单元；和用于请求接口通信单元向上游设备报告第二复位处理的完成的单元。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103502927A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201380001202.1
申请日：2013-03-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G06F3/0689 , G06F3/0619 , G06F3/0665 , G06F3/0677 , G06F11/0727 , G06F11/0787 , G06F11/1076 , G06F11/1446 , G06F2211/1057 , G06F2211/1059 , G06F2211/1076 , G11B20/1833
Abstract: 记录不正确区域信息包含构成盘阵列的多个光盘中的存在数据欠缺的记录不正确区域的光盘和光盘中存在记录不正确区域的位置，控制器(110)包括将数据分散记录到多个光盘的多个数据块，并将用于修复多个数据块中数据欠缺的数据块的数据的至少一个奇偶校验数据记录到至少一个奇偶校验块的记录制御部(121)和在记录数据时因至少一个光盘驱动器使数据欠缺的情况下，将记录不正确区域信息记录到至少一个光盘的管理信息区域的管理信息更新部(125)。
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公开(公告)号：CN101944380B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201010281956.5
申请日：2003-12-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10 , G11B20/1217 , G11B27/329 , G11B2020/10861 , G11B2020/1826 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 本发明提供一种一次写入多次读取信息记录介质，其能够容易地搜索最新DDS和最新缺陷列表。在本发明的一次写入多次读取信息记录介质上的预定方向上连续分配有至少一个盘管理工作区。所述最新缺陷列表和最新DDS被布置在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中，其中最新缺陷列表在所述预定方向上位于所述最新DDS之前。
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公开(公告)号：CN101256799B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN200810081768.0
申请日：2003-02-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/18 , G11B20/1833 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2562
Abstract: 本发明涉及信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法。这种信息记录介质，包括：用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的标题；分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录；和定位符。标题、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置。所述标题包括：用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；第一更新次数信息；和表示缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括：用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识；和第二更新次数信息。
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公开(公告)号：CN102165523A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200980138143.6
申请日：2009-09-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B7/125 , G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24038
Abstract: 本发明的目的在于，在多个记录层分别具备的记录学习用的区域(记录学习区域或测试区域)上进行功率学习和策略学习等记录学习(测试记录)时，使其给其他记录层上的记录学习带来的影响最小化。在本发明的记录介质中，利用从一个面入射的激光在多个记录层中的至少1层上记录数据。多个记录层包含第1记录层、和在从第1记录层到激光入射的入射面的方向上，按顺序配置的第2～第N记录层(N为3以上的整数)。多个记录层分别具备：第1学习区域、和比第1学习区域更位于外周侧的第2学习区域。在第1～第N记录层的各个上所配置的第1学习区域被配置于与其他记录层的第1记录学习区域不同的半径位置，在第1～第N记录层的各个上所配置的第2学习区域被配置于与其他记录层的第2记录学习区域相同的半径位置。
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公开(公告)号：CN102013259A
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN201010281948.0
申请日：2003-12-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10 , G11B20/1217 , G11B27/329 , G11B2020/10861 , G11B2020/1826 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 本发明提供一种一次写入多次读取信息记录介质，其能够容易地搜索最新DDS和最新缺陷列表。在本发明的一次写入多次读取信息记录介质上的预定方向上连续分配有至少一个盘管理工作区。所述最新缺陷列表和最新DDS被布置在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中，其中最新缺陷列表在所述预定方向上位于所述最新DDS之前。
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