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公开(公告)号：CN102077242B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200880130161.5
申请日：2008-07-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06T3/40
CPC classification number: G06T3/40 , G06T15/04 , G06T15/50 , G06T2210/36
Abstract: 本发明提供一种图像生成设备，所述图像生成设备基于根据对象的低质量图像生成的几何参数，在任意期望位置的伪光源下生成所述对象的高质量图像。所述图像生成设备包括：根据光源位置、视点位置以及关于表面结构的几何法线信息计算关于所述表面结构的第一几何参数的几何参数计算单元(102)；存储指示所述表面的一部分的细微结构并且具有比所述几何法线信息更高的空间分辨率的实例的高分辨率数据库单元(103)；增大所述实例以在空间上进行扩展的实例扩展单元(104)；使用所增大的实例修改所述第一几何参数的几何参数修改单元(105)；以及通过将所修改的几何参数应用到反射模型来生成输出图像的图像生成单元(106)。
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公开(公告)号：CN102077243B
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN200980125430.3
申请日：2009-07-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06T3/40
CPC classification number: G06T3/40 , G06T15/04 , G06T15/50 , G06T2210/36
Abstract: 本发明提供一种图像生成设备，所述图像生成设备基于根据对象的低质量图像生成的几何参数，在任意期望位置的伪光源下生成所述对象的高质量图像。所述图像生成设备包括：根据光源位置、视点位置以及关于表面的形状的几何法线信息计算关于所述形状的第一几何参数的几何参数计算单元(102)；存储指示所述表面的一部分的细微结构并且具有比所述几何法线信息高的空间分辨率的实例的高分辨率数据库单元(103)；增大所述实例以在空间上进行扩展的实例扩展单元(104)；使用所增大的实例修改所述第一几何参数的几何参数修改单元(105)；以及通过将所修改的几何参数应用到反射模型来生成输出图像的图像生成单元(106)。
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公开(公告)号：CN102077243A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200980125430.3
申请日：2009-07-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06T3/40
CPC classification number: G06T3/40 , G06T15/04 , G06T15/50 , G06T2210/36
Abstract: 本发明提供一种图像生成设备，所述图像生成设备基于根据对象的低质量图像生成的几何参数，在任意期望位置的伪光源下生成所述对象的高质量图像。所述图像生成设备包括：根据光源位置、视点位置以及关于表面的形状的几何法线信息计算关于所述形状的第一几何参数的几何参数计算单元(102)；存储指示所述表面的一部分的细微结构并且具有比所述几何法线信息高的空间分辨率的实例的高分辨率数据库单元(103)；增大所述实例以在空间上进行扩展的实例扩展单元(104)；使用所增大的实例修改所述第一几何参数的几何参数修改单元(105)；以及通过将所修改的几何参数应用到反射模型来生成输出图像的图像生成单元(106)。
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公开(公告)号：CN102077242A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200880130161.5
申请日：2008-07-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06T3/40
CPC classification number: G06T3/40 , G06T15/04 , G06T15/50 , G06T2210/36
Abstract: 本发明提供一种图像生成设备，所述图像生成设备基于根据对象的低质量图像生成的几何参数，在任意期望位置的伪光源下生成所述对象的高质量图像。所述图像生成设备包括：根据光源位置、视点位置以及关于表面结构的几何法线信息计算关于所述表面结构的第一几何参数的几何参数计算单元(102)；存储指示所述表面的一部分的细微结构并且具有比所述几何法线信息更高的空间分辨率的实例的高分辨率数据库单元(103)；增大所述实例以在空间上进行扩展的实例扩展单元(104)；使用所增大的实例修改所述第一几何参数的几何参数修改单元(105)；以及通过将所修改的几何参数应用到反射模型来生成输出图像的图像生成单元(106)。
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