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公开(公告)号:CN102435600A
公开(公告)日:2012-05-02
申请号:CN201110252145.7
申请日:2011-08-30
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: C12Q1/28 , C12Q1/26 , G01N21/7703 , G01N21/78
Abstract: 本发明涉及测试元件,测试试剂盒,测试装置和测试方法。根据一个实施方式,所述测试元件包括:基板,一对光学元件单元,光波导单元,检测单元和保持单元。基板具有透光性。一对光学元件单元彼此分开排列在基板主表面。光波导单元设置于基板主表面。检测单元设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面。光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧。保持单元是框架形状,且保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出。检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。
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公开(公告)号:CN102735832B
公开(公告)日:2015-02-18
申请号:CN201210090898.7
申请日:2012-03-30
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01N33/543 , G01N21/31
CPC classification number: G01N33/54326 , G01N15/0656 , G01N33/5434 , G01N33/54373 , G01N33/585
Abstract: 根据一个实施方式,提供一种使用了光波导的测定系统。测定系统具有光波导、磁性微粒、磁场施加部、光源及受光元件。光波导具有感应区,该感应区固定化了和测定对象物质特异性结合的第1物质。各个磁性微粒固定化了和上述测定对象物质特异性结合的第2物质。磁场施加部生成使上述磁性微粒移动的磁场。光源使光入射到上述光波导。受光元件接收从上述光波导出射的光。
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公开(公告)号:CN102435600B
公开(公告)日:2015-02-25
申请号:CN201110252145.7
申请日:2011-08-30
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: C12Q1/28 , C12Q1/26 , G01N21/7703 , G01N21/78
Abstract: 本发明涉及测试元件,测试试剂盒,测试装置和测试方法。根据一个实施方式,所述测试元件包括:基板,一对光学元件单元,光波导单元,检测单元和保持单元。基板具有透光性。一对光学元件单元彼此分开排列在基板主表面。光波导单元设置于基板主表面。检测单元设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面。光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧。保持单元是框架形状,且保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出。检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。
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公开(公告)号:CN102735832A
公开(公告)日:2012-10-17
申请号:CN201210090898.7
申请日:2012-03-30
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01N33/543 , G01N21/31
CPC classification number: G01N33/54326 , G01N15/0656 , G01N33/5434 , G01N33/54373 , G01N33/585
Abstract: 根据一个实施方式,提供一种使用了光波导的测定系统。测定系统具有光波导、磁性微粒、磁场施加部、光源及受光元件。光波导具有感应区,该感应区固定化了和测定对象物质特异性结合的第1物质。各个磁性微粒固定化了和上述测定对象物质特异性结合的第2物质。磁场施加部生成使上述磁性微粒移动的磁场。光源使光入射到上述光波导。受光元件接收从上述光波导出射的光。
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