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发明公开
评估颗粒状物体质量的装置和方法失效

公开(公告)号：CN1271857A

公开(公告)日：2000-11-01

申请号：CN00107017.7

申请日：2000-04-24

Applicant: 株式会社佐竹制作所

Inventor： 佐竹觉 , 池田学 , 土井贵广 , 高下悟

IPC: G01N21/85

CPC classification number: G01N21/85 , G01N33/02

Abstract: 评估颗粒状物体质量的一种方法,包括:有选择地从颗粒状物体的前面和背面照射上述物体;从每个被照射物体的前、后两侧提取反射光和透射光图像;对反射光和透射光图像进行图像处理而获得每个物体的光学信息;由此获得颗粒状物体的形状信息;根据光学信息和形状信息确定每个物体的质量,包括完整和不完整的颗粒状物体的质量;计算每一种质量物体的数量,并获得每一种质量占颗粒状物体总数的比例;由光学信息制备出物体的采样图像。

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