颗粒物性测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102159934A

    公开(公告)日:2011-08-17

    申请号:CN200980137028.7

    申请日:2009-09-25

    Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量装置,该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构,但可以确保测量精度,而且可以尽可能减少光学元件的数量,从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25),并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34),在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23),控制利用减光部件(23)的减光率,使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。

    粒子分析设备
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105277488B

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201510408330.9

    申请日:2015-07-13

    Abstract: 一种用于流式细胞术的粒子分析设备,其含有流通池(1),所述流通池具有用于使含有待分析的粒子(X1)的样品溶液(M1)流动的流道(11);光源装置(2),所述光源装置用于发射照射光(L1);光学系统(OP1),所述光学系统用于将所述照射光(L1)照射在所述流道中的照射段上;和光接收装置(3),所述光接收装置用于检测由此获得的光(L2)。所述光源装置(2)的光源是LED(20),并且在其光提取面(21)上形成的电极(22)主要包括彼此平行配置的多根电导线。

    颗粒物性测量装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102323191A

    公开(公告)日:2012-01-18

    申请号:CN201110137134.4

    申请日:2009-09-25

    Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量装置,该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构,但可以确保测量精度,而且可以尽可能减少光学元件的数量,从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25),并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34),在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23),控制利用减光部件(23)的减光率,使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。

    颗粒物性测量装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102323191B

    公开(公告)日:2013-11-06

    申请号:CN201110137134.4

    申请日:2009-09-25

    Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量装置,该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构,但可以确保测量精度,而且可以尽可能减少光学元件的数量,从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25),并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34),在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23),控制利用减光部件(23)的减光率,使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。

    粒子分析设备
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105277488A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201510408330.9

    申请日:2015-07-13

    Abstract: 一种用于流式细胞术的粒子分析设备,其含有流通池(1),所述流通池具有用于使含有待分析的粒子(X1)的样品溶液(M1)流动的流道(11);光源装置(2),所述光源装置用于发射照射光(L1);光学系统(OP1),所述光学系统用于将所述照射光(L1)照射在所述流道中的照射段上;和光接收装置(3),所述光接收装置用于检测由此获得的光(L2)。所述光源装置(2)的光源是LED(20),并且在其光提取面(21)上形成的电极(22)主要包括彼此平行配置的多根电导线。

Patent Agency Ranking