公开(公告)号：CN110794418A

公开(公告)日：2020-02-14

申请号：CN201910712179.6

申请日：2019-08-02

Applicant: 株式会社拓普康

Inventor： 吉野健一郎 ,  江野泰造 ,  森田英树 ,  藤田倖平

IPC: G01S17/88 ,  G01S17/08 ,  G01S7/481 ,  G01S7/48

Abstract: 本发明具备将直线偏振光的测距光向测定对象物照射的投光光学系统、接受来自前述测定对象物的反射测距光的受光光学系统、选择由该受光光学系统受光的前述反射测距光的偏振光的偏振光选择部、基于前述反射测距光的受光结果控制距离测定的计算控制部，该计算控制部构成为，基于由于前述偏振光选择部的偏振光的选择产生的受光量的变化，对前述测定对象物的测距结果赋予材质信息。

公开(公告)号：CN110794418B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN201910712179.6

申请日：2019-08-02

Applicant: 株式会社拓普康

Inventor： 吉野健一郎 ,  江野泰造 ,  森田英树 ,  藤田倖平

IPC: G01S17/88 ,  G01S17/08 ,  G01S7/481 ,  G01S7/48

Abstract: 本发明具备将直线偏振光的测距光向测定对象物照射的投光光学系统、接受来自前述测定对象物的反射测距光的受光光学系统、选择由该受光光学系统受光的前述反射测距光的偏振光的偏振光选择部、基于前述反射测距光的受光结果控制距离测定的计算控制部，该计算控制部构成为，基于由于前述偏振光选择部的偏振光的选择产生的受光量的变化，对前述测定对象物的测距结果赋予材质信息。