光波测距仪
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105319560A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201510336412.7

    申请日:2015-06-16

    CPC classification number: G01S17/10 G01S7/4818 G01S7/486 G01S7/497 G01S17/08

    Abstract: 提供一种光波测距仪,即使是非常大的光量的反射光,也能够在恰当地应对的同时高精度地测量距测量对象物的距离。提供一种光波测距仪(10),其向测量对象物(11)照射测量光(Pm),并由受光元件(23)接收由测量对象物(11)所反射的测量光(Pr),并根据测量光至测量对象物(11)的往返时间来测量距测量对象物(11)的距离。其包括:受光光学系(19),接收由测量对象物(11)所反射的测量光并集光;传播光路部(21),向受光元件(23)传播由受光光学系(19)所集光的测量光,传播光路部由渐变型多模光纤(26)与突变型多模光纤(27)组合而构成。

    卡片真伪识别装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1460072A

    公开(公告)日:2003-12-03

    申请号:CN02800839.1

    申请日:2002-02-18

    Abstract: 一种对于对应卡片(1)的种类、设置所定全息图的卡片(1)的真伪,根据该全息图进行识别用的卡片真伪识别装置,所述装置包括:将测定光投影到全息图上用的测定光投影系统(半导体激光器(25a),视准透镜(25b));对测定光(P)在全息图上反射的反射衍光受光用的区域传感器(28);依据区域传感器(28)输出的信号,分别进行各种全息图对应的运算,以进行卡片(1)的真伪识别的多种识别运算手段(30~32);对多种识别运算手段(30~32)中任何一装置进行选择的选择手段(切换开关(24),切换电路(29))。

    卡片真伪识别装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1460073A

    公开(公告)日:2003-12-03

    申请号:CN02800840.5

    申请日:2002-02-18

    Abstract: 一种卡片真伪识别装置,包括:对于设置在卡片(1)上所定位置的全息图(2),将测定光束(P)从所定的方向朝全息图(2)投影的测定光投影系统(23);对基于由全息图(2)反射的测定光束(P)的反射衍射光(R1)、(R2)、(R3)受光的受光元件(24b);使测定光束(P)对于全息图(2)的照射位置变化,以在受光元件(24b)的光量分布特性对应的受光信号平均化的平均装置(25);将平均化装置(25)的输出与容许值比较,识别卡片的真伪的识别装置(26)。

    光波测距仪
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105319560B

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201510336412.7

    申请日:2015-06-16

    Abstract: 提供一种光波测距仪,即使是非常大的光量的反射光,也能够在恰当地应对的同时高精度地测量距测量对象物的距离。提供一种光波测距仪(10),其向测量对象物(11)照射测量光(Pm),并由受光元件(23)接收由测量对象物(11)所反射的测量光(Pr),并根据测量光至测量对象物(11)的往返时间来测量距测量对象物(11)的距离。其包括:受光光学系(19),接收由测量对象物(11)所反射的测量光并集光;传播光路部(21),向受光元件(23)传播由受光光学系(19)所集光的测量光,传播光路部由渐变型多模光纤(26)与突变型多模光纤(27)组合而构成。

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