公开(公告)号：CN1312485C

公开(公告)日：2007-04-25

申请号：CN03127554.0

申请日：2003-08-07

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 井出一正 ,  宮田健治 ,  岛和男 ,  谷正之

IPC: G01R31/34 ,  G01R33/02 ,  H02P21/14

CPC classification number: H02K15/00

Abstract: 提供一种电机的磁场分析方法，用特定部位的特定高次谐波对电机的磁场分布进行滤波分析。其中包括：根据被给予分析空间内的第一特定部位的关于电磁变量的第一边界条件，进行分析空间的磁场分析的第一磁场分析步骤；将由第一磁场分析步骤获得的分析空间内的第二特定部位的电磁变量展开成每一高次谐波分量的展开步骤；将与展开的电磁变量的高次谐波分量中的至少一个高次谐波分量有关的电磁变量作为第二边界条件，给予第二特定部位的第二边界条件设定步骤；以及根据第一及第二边界条件，进行分析空间的磁场分析的步骤。

公开(公告)号：CN1508640A

公开(公告)日：2004-06-30

申请号：CN03127554.0

申请日：2003-08-07

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 井出一正 ,  宮田健治 ,  岛和男 ,  谷正之

IPC: G05B17/02

CPC classification number: H02K15/00

Abstract: 提供一种旋转电机的磁场分析方法，用特定部位的特定高次谐波对旋转机的磁场分布进行滤波分析。其中，在计算机中执行以下步骤：根据被给予分析空间内的第一特定部位的关于电磁变量的第一边界条件，进行分析空间的磁场分析的第一磁场分析步骤；将由第一磁场分析步骤获得的分析空间内的第二特定部位的电磁变量展开成每一高次谐波分量的展开步骤；将展开的电磁变量的高次谐波分量中的至少与一个高次谐波分量有关的电磁变量作为第二边界条件，给予第二特定部位的第二边界条件设定步骤；以及根据第一及第二边界条件，进行分析空间的磁场分析的步骤。