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公开(公告)号：CN1103979C
公开(公告)日：2003-03-26
申请号：CN98109292.6
申请日：1998-03-31
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 铃木辰哉 , 大桥敏二郎 , 浅野匡昭 , 宫川正威 , 久保田畯
IPC: G06F17/50 , G06F7/00 , G06F9/44
CPC classification number: G06Q10/06
Abstract: 本发明的目的在于提供一种在设计阶段等制造前的阶段寻找出制品所具有的装配不合格率系数的方法及其系统。为了实现上述目的，本发明通过下述装配不合格率推定程序，计算精度较高的装配不合格率推定值，该装配不合格率推定程序将对装配作业的不良的发生容易度造成较大影响的装配动作、装配对象部件的性质条件和装配现场的条件作为输入数据。
公开(公告)号：CN1200517A
公开(公告)日：1998-12-02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种在设计阶段等制造前的阶段寻找出制品所具有的装配不合格率系数的方法及其系统。为了实现上述目的,本发明通过下述装配不合格率推定程序,计算精度较高的装配不合格率推定值,该装配不合格率推定程序将对装配作业的不良的发生容易度造成较大影响的装配动作、装配对象部件的性质条件和装配现场的条件作为输入数据。
